- Tytuł:
-
Randomizacja odchylenia pomiarowego przy ocenie zdolności pomiarowej przyrządu
Bias randomization in evaluation of measurement instrument capability - Autorzy:
- Fotowicz, P.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/274855.pdf
- Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
- Tematy:
-
zdolność pomiarowa
niepewność pomiaru
measurement capability
uncertainty - Opis:
-
Randomizację odchylenia pomiarowego wykorzystuje się przy ocenie zdolności pomiarowej przyrządu. Odchylenie pomiarowe to estymata błędu systematycznego wyznaczana jako różnica pomiędzy wskazaniem przyrządu pomiarowego a wartością wzorcową. Randomizacja polega na przyjęciu odpowiedniego rozkładu prawdopodobieństwa dla tego odchylenia. Miarą zdolności pomiarowej przyrządu jest niepewność rozszerzona obliczana po wykonaniu pomiaru na wzorcu pomiarowym. Niepewność tę odnosi się do wartości granicznej, którą może być największy błąd dopuszczalny. Zdolność pomiarowa jest wskaźnikiem umożliwiającym ocenę jakości metrologicznej przyrządu.
Randomizing of a bias is used in evaluation of measurement instrument capability. Bias is an estimate of systematic error treated as difference between an indication of measuring instrument and a value of standard. Randomization relies on the assumption of suitable probability distribution for the bias. The measure of the capability is an expanded uncertainty calculating after measurement on the standard. The expanded uncertainty is related to limited value. This limited value may be a maximum permissible error. - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Robotyka; 2013, 17, 7-8; 96-99
1427-9126 - Pojawia się w:
- Pomiary Automatyka Robotyka
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł