Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "mikrowygladzanie" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Laser scatterometry and image analysis used for the assessment of surface roughness of microfinished cylindrical elements made of plastics
Zastosowanie skaterometrii laserowej i analizy obrazu do oceny chropowatości powierzchni mikrowygładzanych elementów cylindrycznych wykonanych z tworzyw sztucznych
Autorzy:
Kapłonek, W.
Łukianowicz, C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158403.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
skaterometria laserowa
analiza obrazu
chropowatość powierzchni
mikrowygładzanie
tworzywa sztuczne
laser scatterometry
image analysis
surface roughness
microfinishing
plastics
Opis:
In the paper using of one of the optical measuring methods and image analysis techniques for the assessment of surface roughness of elements made of plastics abrasive machined has been proposed. Experimental investigations were carried out on cylindrical microfinished surfaces, which were illuminated by laser beam light. Images of the scattered light formed at screen were acquired by digital camera. All images were transferred into a computer, and analyzed by Image-ProŽ Plus by Media Cybernetics. This software allows for calculating selected geometric and photometric parameters, which characterized acquired images. The results of experimental investigations show high usefulness of proposed measuring methods for assessment of surface roughness of elements made of materials different than metal and its alloys.
W artykule zaproponowano wykorzystanie jednej z optycznych metod pomiarowych oraz technik analizy obrazu do oceny chropowatości powierzchni elementów wykonanych z tworzyw sztucznych obrabianych ściernie. Dokonano opisu podstaw teoretycznych rozpraszania światła oraz wykorzystujących to optycznych metod skaterometrycznych. Badania doświadczalne przeprowadzono na powierzchniach cylindrycznych mikrowygładzanych taśmami mikrościernymi typu IMFF oraz ILF wyprodukowanymi przez firmę 3M. Obrobione powierzchnie poddano pomiarom stykowym (profilometr stykowy Hommel-Tester T2000 firmy Hommel-werke) oraz ocenie optycznej prowadzonej z wykorzystaniem skaterometrii laserowej wspomaganej technikami analizy obrazu. Zarejestrowane obrazy skaterometryczne analizowano pod kątem uzyskania parametrów geometrycznych i fotometrycznych charakteryzujących oceniane powierzchnie za pomocą specjalistycznego oprogramowania komputerowego Image-ProŽ Plus firmy Media Cybernetics. Wyniki badań wykazały dużą przydatność zaproponowanych metod pomiarowych do oceny nierówności powierzchni elementów wykonanych z materiałów innych niż metal i jego stopy.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 4, 4; 330-333
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Pomiary topografii czynnej powierzchni foliowych taśm mikrościernych z wykorzystaniem konfokalnej laserowej mikroskopii skaningowej
Measurements of surface topography of microfinishing films with use of confocal laser scanning
Autorzy:
Kapłonek, W.
Tomkowski, R.
Zelenak, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155907.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
foliowa taśma mikrościerna
mikrowygładzanie
topografia powierzchni
konfokalna laserowa mikroskopia skaningowa
laserowy mikroskop pomiarowy
microfinishing film
microfinishing
surface topography
confocal laser scanning microscopy
3D measuring laser microscope
Opis:
W pracy przedstawiono zagadnienia związane z pomiarami topografii powie- rzchni narzędzi ściernych stosowanych w procesach mikro- i nanoobróbki. Ocenie poddano zestaw elastycznych foliowych taśm mikrościernych z ziarnem diamentowym o nominalnym wymiarze od 0,5 Μm do 30 Μm. W bada- niach wykorzystano zaawansowany laserowy mikroskop pomiarowy LEXT OLS4000 firmy Olympus. Analiza uzyskanych danych pomiarowych prowadzona była w dostarczonym przez producenta dedykowanym oprogramowaniu LEXT 5.0. Uzyskane rezultaty badań potwierdziły dużą użyteczność i szerokie możliwości pomiarowe wykorzystywanego mikroskopu w badaniach topografii powierzchni tego typu narzędzi ściernych.
In modern industry it is often required to improve the cleanliness and finish quality of surfaces of precise manufacturing parts. For this purpose, producers apply microfinishing [1], which permits to obtain the better quality than that obtained by different conventional finishing processes. This influences significantly the maintenance of proper operating parameters by manufactured parts. Microfinishing process is realized by means of various types of abrasive tools such as microfinishing films [2]. Manufacturers often make available incomplete or incorrect technical data concerning the stereometric characteristics of produced abrasive tools. This situation complicates the proper selection of the optimal machining parameters. In this case it is necessary to conduct investigations of the surface topography of the microfinishing film with use of precise measuring methods. This paper proves that such investigations can be carried out with use of advanced microscopy methods such as nonlocal laser scanning microscopy (CLSM) [4]. During experimental investigations a set of IDLF (ImperialŽ Diamond Lapping Film) films produced by 3M was assessed. IDLF combine diamond grains (nominal diameter from 0.5 Μm to 30 Μm), a resin bonding system and a uniform polyester film. The measurement of films were taken by a 3D measuring laser microscope LEXT OLS4000 produced by Olympus (Fig. 1.). Analysis of the obtained data was carried out in the dedicated LEXT 5.0. software provided by a system producer. The obtained results of investigations (Fig. 2.) confirmed the high usefulness and wide range of measurement of the used microscope in assessment of the surface topography of these types of abrasive tools.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 1, 1; 37-39
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies