Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Czaja, Z." wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami
    Self-testing of an analog part based on fully differential op-amps in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153396.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    samotestowanie
    mikrokontroler
    wzmacniacze w pełni różnicowe
    self-testing
    microcontrollers
    fully differential op-amps
    Opis:
    Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego opartego na wzmacniaczu w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie "ujemnym" impulsem prostokątnym na wejściu Vocm na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
    A new self-testing method of analog parts based on fully differential op-amps in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a "negative" square pulse at the Vocm input into localization curves placed in the measurement space. The stimulation pulse is generated by the short circuit of the signal at the Vocm input to the ground. The method can be used for fault detection and single soft fault localization. For the method there were developed: the measurement procedure whose algorithm is partly implemented in the program code of the microcontroller and partly included in the configuration of its peripheral devices, the ways of selection of diagnosis method parameters such as: the duration time T of the stimulation, that is short circuit of the signal Vocm to the ground signal, the size K of the measurement space and voltage sample moments, and also the fault dictionary determined experimentally. The approach is illustrated on the microsystem controlled by the ATXmega32A4 microcontroller. A low-pass 2nd order filter in the MFB topologies was selected as the tested analog part.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 9, 9; 737-740
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
    A fault diagnosis of multi-section filters based on the IEEE1149.1 test bus
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Bartosiński, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/152339.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    magistrala IEEE1149.1
    diagnostyka uszkodzeń
    mikrokontroler
    układ analogowy
    IEEE1149.1 test bus
    microcontroller
    fault diagnosis
    analog circuit
    Opis:
    Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.
    A new solution of the JTAG BIST for self-testing of analog parts based on multi-section higher-order filters in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time responses of the next section of the filter on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization of the first faulty section of the filter. Thanks to use of the proposed fault diagnosis method, there is no need for expanding the JTAG BIST by any additional components. It follows from the fact that the square pulse stimulating the tested circuit is set only at the input of the first section of the filter. The ADC SCANSTA476 samples two times the time responses at outputs of all sections. Thanks to this, the JTAG BIST needs only one pin of the BCT8244A, and up to 8 inputs pins connected to the analog multiplexer of the ADC of the SCANSTA476.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 9, 9; 745-748
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikatorach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi
    Fault diagnosis of analog multi-stage filters based on two-center basis function neural classifiers
    Autorzy:
    Kowalewski, M.
    Czaja, Z.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156722.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    klasyfikator neuronowy
    mikrokontroler
    układ analogowy
    neural classifier
    microcontroller
    analog circuit
    Opis:
    Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie wielosekcyjnego toru analogowego złożonego z trzech filtrów dolnoprzepustowych 2-go rzędu o strukturze Sallena-Keya.
    The aim of the paper is usage of a classifier with Two-Center Basis Functions for localization of faults in multi-stage filters implemented in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. The main idea of self-testing approach is development of a BIST with a set of analog switches located between individual stages of a tested filter. Thanks to multiplexers used in general purpose input/output lines in microcontrollers, a single line can be the output of an excitation signal (eg. a square impulse) or the input of a measured signal applied to an analog-to-digital converter through the analog multiplexer. Details of the measurement procedure as well methods of detection and localization of faults in analog circuits with use of the TCBF classifier implemented in the microcontroller program code are discussed. The construction and a method of obtaining parameters of the TCBF classifier on an exemplary filter consisting of three 2nd order low-pass filters based on the Sallen-Key topology are presented.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 9, 9; 733-736
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies