Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Krupinski, S." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Non-uniformity correction in microbolometer array with temperature influence compensation
Autorzy:
Krupiński, M.
Bieszczad, G.
Sosnowski, T.
Madura, H.
Gogler, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221147.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
microbolometer
non-uniformity correction
Opis:
In the article a non-uniformity correction method is presented which allows to compensate for the influence of detector’s temperature drift. For this purpose, dependency between output signal value and the temperature of the detector array was investigated. Additionally the influence of the temperature on the Offset and Gain coefficients was measured. Presented method utilizes estimated dependency between output signal of detectors and their temperature. In the presented method, the shutter is used for establishing signal reference. Thermoelectric cooler is used for changing the temperature of the detector array.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 4; 709-718
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Output signal change analysis of an uncooled microbolometer focal plane array with respect to varying control voltages and operating point temperature
Autorzy:
Ligienza, A.
Bieszczad, G.
Sosnowski, T.
Gogler, S.
Krupiński, M.
Firmanty, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/114040.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
Focal Plane Array
microbolometer
Opis:
This paper presents results of output signal analysis of uncooled microbolometric focal plane array FPA. The analysis focuses on detectors manufactured by ULIS. The signal has been tested against varying control voltages, it is blind microbolometer biasing VSK and active microbolometer biasing VFID. The working point temperature of the environment was also altered in range from 5°C to 60°C. Such analysis can be used to check the results against current mathematical model of FPA’s behavior and verify validity of the measurement method in varying working conditions. Later it could allow explore possibility to design corrective algorithms.
Źródło:
Measurement Automation Monitoring; 2018, 64, 4; 95-98
2450-2855
Pojawia się w:
Measurement Automation Monitoring
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies