Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "precision measurement" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Measurement Precision Under Repeatability Conditions of a Batch of Sound Power Assessment for Blenders in Reverberation Room
Autorzy:
Costa-Felix, R. P. B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/177133.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
metrology
measurement precision
sound power assessment
reverberation room
Opis:
A set of sound power assessments was performed to determine measurement precision in specified conditions by the comparison method in a reverberation room with a fixed position array of six microphones. Six blenders (or mixers) and, complementary, a reference sound source were the noise sources. Five or six sound power calculations were undertaken on each noise source, and the standard deviation (sr) was computed as “measurement precision under repeatability conditions” for each octave band from 125 Hz to 8 kHz, and in dB(A). With the results obtained, values of sr equal 1.0 dB for 125 Hz and 250 Hz, 0.8 dB for 500 Hz to 2 kHz, and 0.5 dB for 4 kHz and 8 kHz. Those can be considered representative as sound power precision for blenders according to the measurement method used. The standard deviation of repeatability for the A-weighted sound power level equals 0.6 dB. This paper could be used for house or laboratory tests to check where their uncertainty assessment for sound power determination is similar or not to those generated at the National Metrology Institute.
Źródło:
Archives of Acoustics; 2016, 41, 3; 591-597
0137-5075
Pojawia się w:
Archives of Acoustics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Comparison of Two Buffers for Impedance Metrology
Autorzy:
Kampik, M.
Tokarski, J.
Musioł, M.
Barwinek, W.
Rybski, R.
Kaczmarek, J.
Kozioł, M.
Nissila, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/114359.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
bridge circuits
impedance
measurement standards
metrology
precision measurements
Opis:
The paper presents results of investigations of the two precise voltage followers (buffers) intended for the use in precision impedance metrology. The main application of these buffers are buffering the outputs of multi-phase digital sources of sinusoidal voltage used in precise impedance measurements.
Źródło:
Measurement Automation Monitoring; 2015, 61, 5; 127-131
2450-2855
Pojawia się w:
Measurement Automation Monitoring
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
From Nanometrology to Picometrology - metrology for Human Life and technical Development in the 21st Century
Od nanometrologii do pikometrologii - metrologia dla ludzkiego życia i rozwoju technologicznego XXI wieku
Autorzy:
Afjehi-Sadat, A.
Osanna, P. H.
Durakbasa, M. N.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158059.pdf
Data publikacji:
2004
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
nanometrologia
pikometrologia
metrologia
życie ludzkie
rozwój technologiczny
wiek XXI
nanometrology
nanotechnology
precision manufacturing
measurement technique
quality management
picometrology
metrology
human life
technical development
21st Century
Opis:
In this article the importance of nanometrology and nanotechnology in general for scientific research and especially for production engineering is described and particulary the influence on technical development, high precision manufacturing but also for circumstancies of human life is demonstrated. High accuracy measurement technique and metrology must be given a key role in modern production environment. Essential contributions to increase the quality of products and the productive power of industrial plants can be reached through the aimed application of nanometrology.
Przedstawiono podstawowe znaczenie nanometrologii i nanotechnologii w badaniach naukowych koncentrując się przede wszystkim na inżynierii produkcji. Podkreślono wpływ nanometrologii i nanotechnologii na rozwój techniczny, wytwarzanie o wysokiej dokładności jak również ich znaczenie w życiu człowieka. Techniki pomiarowe o wysokiej dokładności i metrologia powinny odgrywać kluczową rolę w warunkach nowoczesnej produkcji. Dzięki zastosowaniom nanotmetrologii można uzyskać znaczący wzrost jakości wyrobów i zdolności produkcyjnych.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2004, R. 50, nr 12, 12; 10-14
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies