Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "ICP analysis" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Manufacturing of thin nickel-rich alloy films on powder substrate using magnetron sputtering technique
Autorzy:
Bordolińska, Klaudia
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1179518.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
ICP analysis
layer thickness
magnetron sputtering
thin layers
Opis:
The magnetron sputtering technology has been applied to obtain five kinds of thin, nickel-rich layers on tungsten powder substrate. Circular plates (30 mm in diameter) of pure nickel (99.9%), inconel 600 (72% Ni, 17% Cr, 10% Fe), inconel 601 (63% Ni, 25% Cr, 7.6% Fe), inconel c-276 (51% Ni, 16.5% Cr, 17% Mo) and incoloy H / HT (35% Ni, 23% Cr, 39.5% Fe) were used as sputtering targets. The nickel-based layers have been deposited on pure tungsten powder (2 g; fraction 20-50 µm). After 2 hours of sputtering, the produced layers have been dissolved in 2M HCl solution. The obtained solutions were then analyzed on Ni2+, Cr3+, Fe2+ or Mo2+ ions. The analysis data allows for evaluation of the thickness of the obtained coatings.
Źródło:
World Scientific News; 2017, 76; 16-22
2392-2192
Pojawia się w:
World Scientific News
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The kinetics of growth of high entropy alloy layers sputtered on Tungsten powder substrate
Autorzy:
Stefaniak, Agnieszka
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1179528.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
ICP analysis
high entropy alloy
magnetron sputtering
nanolayers
Opis:
Tungsten powder particles have been encapsulated with thin CrMnFeCoNi layers by magnetron sputtering method using high entropy alloy as a target. In the course of sputtering the powder surface has been periodically analyzed. The multimetallic coatings were being dissolved in 2 M HCl and the obtained solutions were analyzed by ICP method to determine Cr3+, Mn2+, Fe2+, Co2+ and Ni2+ ions concentration. The aim of the analysis was comparison of atomic proportions of the elements in the target and in obtained layer and indirect determining of the layer thickness.
Źródło:
World Scientific News; 2017, 76; 60-65
2392-2192
Pojawia się w:
World Scientific News
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies