Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "rozkład AMF" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Investigation of the magnetic field distribution on the surface of AMF contacts
Badania rozkładu pola magnetycznego na powierzchni styków AMF
Autorzy:
Krasuski, K.
Błażejczyk, T.
Sibilski, H.
Kozak, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159158.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
rozkład pola magnetycznego
styk AMF
łuk dyfuzyjny
magnetic field distribution
AMF contact
diffusion arc
Opis:
Rozkład osiowego pola magnetycznego na powierzchni styków komór próżniowych odgrywa decydującą rolę w ograniczaniu erozji styków podczas wyłączania prądu zwarciowego. Ograniczenie erozji styków możliwe jest przez równomierny rozkład osiowego pola magnetycznego na całej powierzchni styku. Z tego względu, w projektowaniu styków, należy stosować metody obliczeniowe do sprawdzenia składowej osiowej rozkładu pola magnetycznego. W artykule podano wynik analizy rozkładu składowej osiowej pola magnetycznego dla styku bipolarnego z nacięciami ukośnymi i z nacięciami o kształcie łuku. Do analizy stosowano program komputerowy FLUX 3D. Wykonano również badania rozkładu strumienia łuku dyfuzyjnego w rozbieralnej komorze próżniowej podczas wyłączania prądu zwarciowego o wartości 15 kA.
The axial magnetic field (AMF) distribution on the contact surface plays an important role in short circuit current interruption. To minimize erosion of the contact the AMF should be uniformly distributed over the contact plates. During theoretical analysis of bipolar contacts, the design of the contact coil and the slots made in the contact’s plate, as well as the orientation of the steady contact relative to the moving contact were taken into account. The FLUX 3-D computer program was used for the calculation of the AMF and the results were compared and analyzed. To investigate the distribution of arc spots on the contact plate surface experiments were conducted in a dismountable vacuum chamber during a 15 kA short circuit current interruption.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2017, 276; 7-13
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies