Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "plan testów" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Zarys metodyki sterowanego ryzykiem testowania systemów wbudowanych
Methodology of developing a risk-based test strategy for embedded systems
Autorzy:
Liderman, K.
Zieliński, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/273249.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
Tematy:
ryzyko
plan testów
systemy wbudowane
risk
test plan
embedded systems
Opis:
Artykuł zawiera propozycję metodyki wykonania planu testów dla systemu wbudowanego, bazującej na wynikach analizy ryzyka i wyborze określonego zestawu kryteriów jakościowych. Jest on rozwinięciem tematyki zawartej w [3].
In the paper the methodology of developing a risk-based test strategy for embedded systems is proposed. The methodology is based on risk analysis results and quality criteria of the system being tested. The outline of basic procedures is depicted.
Źródło:
Biuletyn Instytutu Automatyki i Robotyki; 2007, R. 13, nr 24, 24; 27-41
1427-3578
Pojawia się w:
Biuletyn Instytutu Automatyki i Robotyki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies