- Tytuł:
- Modelling of Schottky contacts for admittance and impurity profiling measurements
- Autorzy:
-
Sikorski, S.
Jung, W. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/378443.pdf
- Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
- Tematy:
-
diody Schottky'ego
modelowanie
detektory z barierą Schottky'ego
przyrządy półprzewodnikowe
Schottky diodes
modelling
Schottky barrier photodiodes
semiconductor devices - Opis:
- The paper presents a theory of a metal-semiconductor contact biased by dc voltage with superimposed small ac signal. Theoretical considerations based on general transport equations enabled to derive equations useful for admittance and impurity profiling measurements of materials properties.
- Źródło:
-
Electron Technology : Internet Journal; 2007, 39, 5; 1-5
1897-2381 - Pojawia się w:
- Electron Technology : Internet Journal
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł