Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "thin-film laser" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Determination of the structural state and stability of the laser crystallized Cd1-xМnxTe crystal surface
Określenie postaci strukturalnej oraz stabilności powierzchni kryształu Cd1-xМnxTe krystalizowanej laserem
Autorzy:
Strebezhev, Victor
Yuriychuk, Ivan
Fochuk, Petro
Nichyi, Sergiy
Dobrovolsky, Yuriy
Tkachuk, Victoria
Sorokatyi, Mykola
Sorokatyi, Yurii
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/408440.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
Cd1-xMnxTe crystal
surface
laser
thin film
kryształ Cd1-xMnxTe
powierzchnia
cienka powłoka
Opis:
The modified surface layers of the Cd1-xМnxTe crystals were obtained by the laser recrystallization of the crystal surface with the use of millisecond and nanosecond impulse ruby lasers. The determination and diagnostics of the layer structural state were performed by the study of the electron channeling patterns in the SEM. The AFM studies showed that mechanically stable contact regions within the CdTe crystal –Cu film system can be formed, depending on the laser energy density and beam defocusing. On the base of the ellipsometric studies, it was found that while irradiating the Cd1-xМnxTe crystal surface, the refractive index of the oxide film on the modified surface changes depending on the laser beam energy density, which can be interpreted as the formation of the oxides of the different chemical composition.
Zmodyfikowane warstwy wierzchnie kryształów Cd1-xМnxTezostały uzyskane metodą laserowej rekrystalizacji powierzchni kryształu przy wykorzystaniu impulsów milisekundowychi nanosekundowychlaserów rubinowych. Określenie i diagnostyka strukturalnej postaci powierzchni zostały wykonane metodą badania struktury kanałów elektronu SEM. Badania AFM wykazały,że mogą zostać wytworzoneobszary mechanicznie stabilnego obszaru kontaktowego kryształ CdTe –powłoka Cu,w zależności od skupienia energii laserowejoraz zdekoncentrowania wiązki. Na podstawie pomiarów elipsometrycznychodkryto,że podczas napromieniowywania powierzchni kryształu Cd1-xМnxTe, wskaźnik refrakcyjny powłoki tlenku na powierzchni zmodyfikowanej ulega zmianie w zależności od skupienia energii wiązki laserowej, co może być interpretowane,jako powstawanie tlenków o różnym składzie chemicznym.
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 1; 40-43
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies