Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Atomic Force Microscopy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 27
Tytuł:
Enhancing capabilities of Atomic Force Microscopy by tip motion harmonics analysis
Autorzy:
Babicz, S.
Smulko, J.
Zieliński, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/199918.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
harmonics
van der Waals forces
Opis:
Motion of a tip used in an atomic force microscope can be described by the Lennard-Jones potential, approximated by the van der Waals force in a long-range interaction. Here we present a general framework of approximation of the tip motion by adding three terms of Taylor series what results in non-zero harmonics in an output signal. We have worked out a measurement system which allows recording of an excitation tip signal and its non-linear response. The first studies of spectrum showed that presence of the second and the third harmonics in cantilever vibrations may be observed and used as a new method of the investigated samples characterization.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2013, 61, 2; 535-539
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Development and utilization of the nanomarkers for precise AFM tip positioning in the investigation of the surface morphology change
Autorzy:
Sikora, A
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174750.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
material science
environmental tests
nanolithography
nanomarker
Opis:
The investigation of the surface properties changes at micrometer and nanometer scale, due to the presence of various factors such as: temperature, solar radiation or magnetic field, requires suitable diagnostic methods. Atomic force microscopy (AFM) is one of the most popular measurement techniques providing necessary resolution. As complex experiments may require multiple moving of the sample between instruments and AFM, one can find quantitative comparison of the results unreliable when the measurements are performed without precise positioning of investigated surface and different areas are analyzed. In this work, the utilization of the nanoscratching method in terms of development of the nanomarkers set is presented, as the solution for precise positioning of the sample in order to perform the multi-step imaging of small surface area (1 μm×1 μm). Various materials were used to verify the versatility of the developed method. Also, the observation of the influence of the UV radiation on the polycarbonate sample was demonstrated as the example proving the application potential of the approach.
Źródło:
Optica Applicata; 2013, 43, 1; 163-171
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Piezoresistive sensors for atomic force microscopy - numerical simulations by means of virtual wafer fab
Autorzy:
Dębski, T.
Barth, W.
Rangelow, I.W.
Domański, K.
Tomaszewski, D.
Grabiec, P.
Jakubowski, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/307644.pdf
Data publikacji:
2001
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
piezoresistive sensors
technology simulation
technology characterization
Opis:
An important element in microelectronics is the comparison of the modelling and measurements results of the real semiconductor devices. Our paper describes the final results of numerical simulation of a micromechanical process sequence of the atomic force microscopy (AFM) sensors. They were obtained using the virtual wafer fab (VWF) software, which is used in the Institute of Electron Technology (IET). The technology mentioned above is used for fabrication of the AFM cantilevers, which has been designed for measurement and characterization of the surface roughness, the texturing, the grain size and the hardness. The simulation are very useful in manufacturing other microcantilever sensors.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2001, 1; 35-39
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The study of harmonic imaging by AFM
Badania harmonicznych w obrazowaniu AFM
Autorzy:
Babicz, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156072.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikroskop sił atomowych
powierzchnia
harmoniczne
atomic force microscopy (AFM)
surface
harmonics
Opis:
Atomic Force Microscopy (AFM) is a powerful tool for the analysis of surface samples with accuracy of single atoms. The existing methods include surface roughness, porosity and hardness of the test portion of the sample. The article presents the preliminary studyof a new AFM method of surface analysis. The study indicates that there may be a correlation between intensity of a harmonic resonance frequency of the needle and the system response. The suggested correlation can characterize elasticity of the analyzed surface.
Mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope - AFM) został wynaleziony w 1986 roku [1] jako alternatywa dla skaningowego mikroskopu tunelowego (ang. Scanning Tunneling Microscope - STM), którego nie można użyć do badań nad materiałami nieprzewodzącymi. AFM umożliwia pomiary materiałów zanurzonych w cieczach, co pozwala badać żywe preparaty biologiczne w warunkach zbliżonych do ich naturalnego środowiska [2]. W artykule przedstawiono zasadę pracy mikroskopu (rys. 1) oddziaływującego siłami van der Waalsa (opisanymi funkcją Lennarda - Jonesa) między ostrzem skanującym a próbką (1) (rys. 2) [3]. Opisano trzy podstawowe tryby pracy mikroskopu: kontaktowy, przerywany [4-6] oraz bezkontaktowy (2). Opierając się na dotychczasowych badaniach [7] wyznaczających różne właściwości materiału w zależności od ich budowy (rys. 3, rys. 4) przebadano próbkę warystora (rys. 5) pod kątem obecności i poziomu kolejnych harmonicznych pobudzającej częstotliwości rezonansowej w odpowiedzi układu. Przeprowadzone pomiary wskazują, że może istnieć związek między intensywnością kolejnych harmonicznych, a właściwościami badanej powierzchni.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 12, 12; 1508-1510
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:
Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/298112.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie
Tematy:
mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography
Opis:
The paper presents recent results from studies of a surface topography of a platinum calibration grid on silicon substrate obtained in both contact and tapping modes of the AFM microscope. The results are analyzed in order to determine the influence of the scan set-up and the SPM probe onto estimated fractal parameters and surface anisotropy ratio.
Źródło:
Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn; 2012, 15(2); 307-318
1505-4675
2083-4527
Pojawia się w:
Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Insertion of GPI-anchored alkaline phosphatase into supported membranes: a combined AFM and fluorescence microscopy study.
Autorzy:
Rieu, Jean-Paul
Ronzon, Frédéric
Place, Christophe
Dekkiche, Fairouz
Cross, Benjamin
Roux, Bernard
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1043341.pdf
Data publikacji:
2004
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Biochemiczne
Tematy:
fluorescent beads
atomic force microscopy (AFM)
GPI anchors
alkaline phosphatase
supported lipid membranes
Opis:
A new method based on combined atomic force microscopy (AFM) and fluorescence microscopy observations, is proposed to visualize the insertion of glycosylphosphatidyl inositol (GPI) anchored alkaline phosphatase from buffer solutions into supported phospholipid bilayers. The technique involves the use of 27 nm diameter fluorescent latex beads covalently coupled to the amine groups of proteins. Fluorescence microscopy allows the estimation of the relative protein coverage into the membrane and also introduces a height amplification for the detection of protein/bead complexes with the AFM. The coupling of the beads with the amine groups is not specific; this new and simple approach opens up new ways to investigate proteins into supported membrane systems.
Źródło:
Acta Biochimica Polonica; 2004, 51, 1; 189-197
0001-527X
Pojawia się w:
Acta Biochimica Polonica
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Damage distributions in GaAs single crystal irradiated with 84Kr (394 MeV), 209Bi (710 MeV) and 238U (1300 MeV) swift ions
Autorzy:
Didyk, A. Y.
Komarov, F. F.
Vlasukova, L. A.
Gracheva, E. A.
Hofman, A.
Yuvchenko, V. N.
Wiśniewski, R.
Wilczyńska, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/146738.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
semiconductors
gallium arsenide
swift heavy ions
inelastic energy loss
atomic force microscopy (AFM)
Opis:
We are presenting a study of damage distribution in GaAs irradiated with 84Kr ions of energy EKr = 394 MeV up to the fluence of 5 × 1012 ion/cm-2. The distribution of damage along the projected range of 84Kr ions in GaAs was investigated using selective chemical etching of a single crystal cleaved perpendicularly to the irradiated surface. The damage zone located under the Bragg peak of 84Kr ions was observed. Explanation of the observed effects based on possible processes of channeling of knocked target atoms (Ga and As) is proposed.
Źródło:
Nukleonika; 2008, 53, 2; 77-82
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The implementation and the performance analysis of the multi-channel software-based lock-in amplifier for the stiffness mapping with atomic force microscope (AFM)
Autorzy:
Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/201101.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
stiffness mapping
lock-in amplifier
software development
torsional oscilators
Opis:
In this paper the implementation of the surface stiffness mapping method with the dynamic measurement mode of atomic force microscopy (AFM) is presented. As the measurement of the higher harmonics of the cantilever’s torsional bending signal is performed, we are able to visualize non-homogeneities of the surface stiffness. In order to provide signal processing with the desired sensitivity and selectivity, the lock-in amplifier-based solution is necessary. Due to the presence of several useful frequencies in the signal, the utilization of several simultaneously processing channels is required. Therefore the eight-channel software-based device was implemented. As the developed solution must be synchronized with the AFM controller during the scanning procedure, the real-time processing regime of the software is essential. We present the results of mapping the surface stiffness and the performance tests results for different working conditions of the developed setup.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2012, 60, 1; 83-88
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
Autorzy:
Zembrzycki, K.
Pawłowska, S.
Nakielski, P.
Pierini, F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/31343079.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
Tematy:
optical tweezers
atomic force microscopy (AFM)
AFM/OT
mikroskopia sił atomowych
szczypce optyczne
Opis:
The role of mechanical properties is essential to understand molecular, biological materials and nanostructures dynamics and interaction processes. Atomic force microscopy (AFM), due to its sensitivity is the most commonly used method of direct force evaluation. Yet because of its technical limitations this single probe technique is unable to detect forces with femtonewton resolution. In this paper, we present the development of a combined atomic force microscopy and optical tweezers (AFM/OT) instrument. The system is based on a commercial AFM and confocal microscope. The addition of three lasers along with beam shaping and steering optics, on which the optical tweezer is based upon, provide us with the ability to manipulate small dielectric objects suspended in a fluid. Additionally, this same device allows for direct displacement and force measurement with very high resolution and accuracy in the same AFM scanning zone. We have also fitted a laser and a set of filters to observe fluorescent samples appropriately exited. We show that this is a great improvement of a standalone AFM force resolution and more so opens a way to conduct experiments using a hybrid double probe technique with high potential in nanomechanics, molecules manipulation and biological studies. This paper describes in detail the construction of all the modules such as the trapping laser optics, detection laser optics and the fluorescence module. Also, due to its importance on the performance of the equipment, the electronics part of the detection system is described. In the following chapters the whole adjustment and calibration is explained. The performance of the apparatus is fully characterized by studying the ability to trap dielectric objects and quantifying the detectable and applicable forces. The setting and sensitivity of the particle position detector and force sensor is shown. We additionally describe and compare different optical tweezer calibration methods. In the last part we show the ability of our instrument to conduct experiments using the proposed double-probe technique, in this case to study interaction forces between two particles.
Pomiary własności mechanicznych i sił w mikro i nanoskali mają bardzo ważne znaczenie w badaniach dynamiki i oddziaływań materiałów biologicznych i nanostruktur. Mikroskopia sił atomowych (ang. AFM), z uwagi na swoją czułość, jest najczęściej używaną techniką do bezpośredniego pomiaru sił. Jednak z powodu swoich ograniczeń nie jest w stanie mierzyć sił z rozdzielczością w zakresie femtonewtonów. Takie możliwości stwarza metoda optyczna oparta na tzw. szczypcach optycznych (ang. OT). Z drugiej strony z uwagi na fizyczne ograniczenia tej metody pomiary charakteryzujące oddziaływujące powierzchnie w niewielkich odległościach, nadal wymagają stosowania mikroskopii sił atomowych. W poniższej pracy opisujemy unikalną konstrukcję hybrydową bazującą na połączeniu obu technik w jednym systemie. Skonstruowany system (AFM/OT) oparty jest na autorskiej modyfikacji komercyjnego mikroskopu AFM (firmy NT-MDT) i jest możliwy do zastosowania zasadniczo w każdym innym dostępnym na rynku mikroskopie typu AFM. Modyfikacja polega zasadniczo na budowie dodatkowego systemu optycznego formującego wiązki trzech laserów, na których bazują szczypce optyczne. Umożliwia to manipulację małymi obiektami dielektrycznymi zawieszonymi w płynie i precyzyjną detekcję ich położenia. Dzięki takiej modyfikacji stworzony system AFM/OT pozwala na bezpośrednie pomiary przemieszczenia oraz siły z bardzo dużą rozdzielczością i dokładnością w obszarze działania sondy AFM. Dodatkowo system został wyposażony w laser i elementy optyczne pozwalające na pobudzanie i detekcję fluorescencji odpowiednio przygotowanych obiektów. Wykazujemy, że ten instrument istotnie poprawia zakres i rozdzielczość sił mierzonych za pomocą standardowego mikroskopu AFM, jak również otwiera drogę do przeprowadzania eksperymentów z użyciem hybrydowej techniki dwóch sond, mającej wysoki potencjał zastosowań w nanomechanice, badaniach biologicznych i nanomanipulacji. Niniejsza praca przedstawia szczegóły konstrukcyjne zbudowanych modułów szczypiec optycznych, jak i układ elektroniczny pozwalający na precyzyjne pomiary przemieszczeń obiektów uwięzionych przez szczypce optyczne. W kolejnych partiach pracy przedstawiona jest procedura dostrajania układu optycznego i metodyka kalibracji systemu pomiaru sił i przemieszczeń. Podstawowe parametry aparatury zostają w pełni scharakteryzowane poprzez zbadanie jej zdolności do manipulacji dielektrycznymi obiektami oraz do mierzeni wywieranych na nie sił. Dodatkowo przedstawiamy opis i porównanie różnych metod kalibracji szczypiec optycznych. W ostatniej części pracy przedstawiamy na przykładzie pomiaru oddziaływań bliskiego kontaktu dwóch cząstek koloidalnych potencjał naszego instrumentu dla przeprowadzania pomiarów z jednoczesnym użyciem techniki dwóch sond (AFM/OT).
Źródło:
IPPT Reports on Fundamental Technological Research; 2016, 2; 1-58
2299-3657
Pojawia się w:
IPPT Reports on Fundamental Technological Research
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images
Zastosowanie funkcji autokorelacji oraz geometrii fraktalnej do analizy obrazów struktur domenowych rejestrowanych metodą MFM
Autorzy:
Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Czaja, P.
Maziarz, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/352007.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
magnetic force microscopy
magnetic domains
fractal analysis
mikroskopia sił magnetycznych
MFM
analiza fraktalna
Opis:
Presented work is focused on the use of correlation methods for numerical analysis of magnetic stray field over the surface of materials. Obtained results extend our previous findings about application of the autocorrelation function and the fractal analysis for characterization of magnetic surfaces. Several domain images are recorded at various tip-sample gaps (i.e. the lift heights), and then their average widths were extrapolated down to the zero distance in order to estimate the width seen right on the surface. Apart from that, fractal parameters were derived from autocorrelation function, which turned out to be sensitive to the lift height, and might constitute universal measure (the critical lift height), above which the MFM signal became dominated by thermal noises and non-magnetic residual interactions.
Niniejsza praca dotyczy zastosowania metod korelacyjnych do numerycznej analizy obrazów rozkładu pola magnetycznego emitowanego z obszarów spontanicznego namagnesowania. W pracy przedstawiono kontynuację badań nad zastosowaniem funkcji autokorelacji oraz metod analizy fraktalnej w badaniach struktury domenowej oraz charakterystyki emitowanego z nich pola magnetycznego. Wyniki badań wykazują zależność mierzonej metodami mikroskopii sił magnetycznych (MFM) szerokości domen od wysokości skanowania nad badaną powierzchnią, sugerując przeprowadzanie serii pomiarów na różnych wysokościach (h), ich aproksymację z następną ekstrapolacją do powierzchni (h=0). Przeprowadzona analiza fraktalna, wskazuje na możliwość jej aplikacji do charakterystyki zmian sygnału magnetycznego rejestrowanego przez MFM. Pozwala ona również na wyznaczenie wysokości krytycznej (hkr), na której sygnałem dominującym stają się nakładające się na sygnał magnetyczny pozostałości niemagnetycznych interakcji między igłą sondy i badaną powierzchnią, stanowiące rejestrowany przez MFM szum.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2014, 59, 2; 451-457
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Simulation and measurements for the substance identification by AFM
Symulacja i pomiary substancji w identyfikacji za pomocą AFM
Autorzy:
Babicz, S.
Zieliński, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266794.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
mikroskop sił atomowych
identyfikacja substancji
funkcja Leonarda-Jonesa
atomic force microscopy (AFM)
chemicals identification
Opis:
Due to nanotechnology development, there is a strong pressure on research in nanoscale in various environments. An Atomic Force Microscope (AFM) allows to investigate topography of the sample and give some information about it’s chemical composition. During the last two decades, the number of possible applications of AFM increased considerably. The AFM investigates the forces between the applied tip and the sample atoms. These forces are described by Lennard-Jones function. The paper presents a theoretical framework that explains a use of the AFM and presents the recorded signals, applied for substance characterization. Moreover, the preliminary results of the quartz surface measurements are enclosed. The presented way of the collected data analysis shows how to get parameters of the Lennard-Jones function, characteristic for the investigated sample.
W związku z rozwojem nanotechnologii, znacząco wzrosła potrzeba badań mikroskopijnych obiektów. Do takich celów służy mikroskop sił atomowych (AFM), który umożliwia badania topografii próbki oraz dostarcza informacji o jej składzie chemicznym. W ciągu ostatnich dwóch dekad liczba możliwych zastosowań AFM znacznie wzrosła. Mikroskop AFM bada siły oddziałujące między atomami igły skanującej a powierzchnią próbki. Siły te opisuje funkcja Lennard-Jonesa. W pracy przedstawiono teoretyczne podstawy działania mikroskopu sił atomowych oraz rejestrowane sygnały, służące do identyfikacji badanej substancji. Przykładowe badania wykonano na próbce kwarcu. Przyjęty sposób analizy danych pokazuje, jak uzyskać parametry funkcji Lennard-Jonesa, charakterystycznych dla badanej próbki.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2011, 30; 17-20
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A measurement system for nonlinear surface spectroscopy with an atomic force microscope during corrosion process monitoring
System pomiarowy do nieliniowej spektroskopii powierzchni mikroskopem sił atomowych podczas monitorowania procesów korozji
Autorzy:
Babicz, S.
Zieliński, A.
Smulko, J.
Darowicki, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153459.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
corrosion
atomic force microscopy (AFM)
synchronous detection
nonlinearity
korozja
mikroskop sił atomowych
detekcja synchroniczna
nieliniowości
Opis:
In addition to traditional imaging of the surface, atomic force microscopy (AFM) enables wide variety of additional measurements. One of them is higher harmonic imaging. In the tapping mode the nonlinear contact between a tip and specimen results in higher frequency vibrations. More information available from the higher harmonics analysis proves to be helpful for more detailed imaging. Such visualization is especially useful for heterogeneous surfaces which are studied to understand corrosion mechanisms. In this paper the measurement system for nonlinear surface spectroscopy by AFM for corrosion processes monitoring is presented.
Oprócz tradycyjnego zastosowania, mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope, AFM) [1] (rys. 1) umożliwia wiele dodatkowych pomiarów, wśród których wyróżnić można obrazowanie powierzchni próbki wyższymi harmonicznymi [6-13]. W trybie półkontaktowym [2-4] w odpowiedzi mikrobelki zauważane są wyższe harmoniczne będące wynikiem oddziaływań nieliniowych [2-6]. Wykorzystanie wzmacniacza fazoczułego (ang.: lock-in amplifier) umożliwia obrazowanie topografii badanej próbki [12, 13] nawet do dwudziestej harmonicznej. Otrzymywane obrazy umożliwiają wyostrzenie elementów niewidocznych podczas tradycyjnego skanowania. Ma to związek z wyostrzoną czułością wyższych harmonicznych na struktury topograficzne. Takie obrazowanie jest szczególnie przydatne do badań próbek niejednorodnych [12], gdy łatwo wyróżnić przez obserwację poziom niektórych harmonicznych [6]. Oprócz wyraźnych zmian przy przejściach między różnymi substancjami, pomiary w cieczach wykazują się zwiększoną wrażliwością na lokalne różnice w elastyczności i interakcji geometrii [10]. Przedstawiono system do obrazowania powierzchni za pomocą wyższych harmonicznych w pomiarach ECAFM (ang. Electrochemical Atomic Force Microscopy, ECAFM, rys. 2). Prezentowane rozwiązanie (rys. 3, rys. 4) umożliwia jednoczesną rejestrację obrazów do szóstej harmonicznej podczas monitorowania procesów korozji (rys. 5, 6). Proponowany system pozwala na uzyskiwanie dodatkowych informacji o zjawiskach korozji zachodzących na skanowanych powierzchniach. Taka metoda stanowi uzupełnienie istniejących metod analizy powierzchni korozyjnych [14-16].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 4, 4; 287-291
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych. Wybrane zagadnienia : wybrane zagadnienia
Development and utilization of advanced atomic force microscopy techniques in diagnostics of the electrotechnical materials. Chosen problems
Autorzy:
Sikora, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159812.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
nikroskopia sił atomowych
diagnostyka powierzchni w nanoskali
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
nanoscale surface diagnostics
electrotechnics
Opis:
Dynamiczny rozwój inżynierii materiałowej, w której coraz liczniejszą grupę tworzą tzw. nanomateriały, wymusza stosowanie narzędzi pomiarowych pozwalających uzyskać informacje o zjawiskach i efektach obecnych w skali nanometrowej, a decydujących o właściwościach makroskopowych wytwarzanych obiektów. Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z technik diagnostycznych umożliwiających pomiar właściwości powierzchni w skali mikrometrowej oraz nanometrowej. Realizowane za jej pomocą badania powierzchni materiałów stosowanych w elektrotechnice mogą obejmować szerokie spektrum właściwości. Uzyskiwane w ten sposób informacje pozwalają zrozumieć zależności między parametrami technologicznymi wytwarzania materiału a jego właściwościami makroskopowymi, dzięki czemu możliwe jest sterowanie procesem produkcyjnym w celu uzyskania finalnego produktu o pożądanych cechach poprzez wpłynięcie na jego nanoskopową strukturę. Niniejsza praca przedstawia rozwój oraz zastosowanie wybranych technik pomiarowych mikroskopii sił atomowych w diagnostyce właściwości mechanicznych, elektrycznych, magnetycznych i termicznych materiałów oraz struktur takich jak: azometiny, tłoczywa termoutwardzalne, polimery silikonowe, cienkie warstwy NiFe, mikrostruktury półprzewodnikowe oraz nanostruktury grafenowe. Zarejestrowane wyniki pomiarowe wykorzystano do zademonstrowania możliwości interpretacyjnych w odniesieniu do parametrów technologicznych, rezultatów innych badań lub też czynników wpływających na badaną próbkę. Do każdej grupy przykładów zastosowania określonego trybu pomiarowego, wprowadzenie stanowi zwarty opis podstaw teoretycznych oraz praktyki pomiarowej. Metody i rozwiązania opracowane przez autora zostały opisane szczegółowo, z uwagi na potencjalne trudności z uzyskaniem dostępu do alternatywnych źródeł informacji. Demonstracja szerokiego spektrum zastosowań opisanych metod diagnostycznych jest jednocześnie dowodem uniwersalności i przydatności mikroskopii sił atomowych w prowadzonych badaniach ukierunkowanych na opracowanie nowych, energooszczędnych, trwałych oraz ekologicznych materiałów do zastosowań w elektrotechnice.
Recent development of the materials science and increase of the significance of the nanomaterials, induces the utilization of the measurement tools allowing to obtain the information about the nanometer-scale phenomena, which have an major impact on the macroscopic properties of fabricated objects. Atomic force microscopy (AFM) is one of the diagnostic methods allowing to test various properties of the surface at micrometer and nanometer scale. It allows to perform the investigation in the wide range of the surface properties of the materials utilized in electrotechnics. Acquired data allows to understand the relations between the technology parameters and the properties of the materials, therefore one can obtain the final product with desired qualities by modifying the production process and influencing its nanoscopic structure. This dissertation presents development and utilization of selected advanced AFM techniques in examining mechanical, electrical, magnetic and thermal properties of the materials and structures such as: azomethines, sheet moulding compounds, silicon polymers, thin NiFe layers, semiconductor structures and graphene-based nanostructures. Obtained measurement data was used to demonstrate the interpretation possibilities in terms of referring to the technology parameters, other techniques tests results or the factors influencing the sample. In order to provide the basic information, every chapter introduction contains the short description of theory and practical issues of certain measurement technique. Methods and solutions developed by author are presented in detail as no alternative source of the information can be available to the reader. Demonstrated wide application spectra of described diagnostic methods proves the versatility and usability of atomic force microscopy in the research aimed at development of new, energy-saving and ecological materials for electrotechnics.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 257; 13-186
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of Natural Organic Matter on Fouling and Ultrafiltration Membranes Properties – AFM analysis
Wpływ naturalnych substancji organicznych na fouling oraz właściwości membran ultrafiltracyjnych – analiza AFM
Autorzy:
Płatkowska-Siwiec, A.
Bodzek, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/387738.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Towarzystwo Chemii i Inżynierii Ekologicznej
Tematy:
fouling
ultrafiltration
natural organic matter
atomic force microscopy (AFM)
ultrafiltracja
naturalne substancje organiczne
mikroskop sił atomowych
Opis:
Low pressure membrane processes ie microfiltration and ultrafiltration are widely applied in water and wastewater treatment. The main exploitation problem connected with those technologies is the decrease of membrane capacity during the process caused by blocking of membrane pores with organic and inorganic substance (so-called fouling). The performance of atomic force microscopy analysis enables quantitative determination of membranes roughness and allows to characterize membrane surface before and after fouling. The paper discuss results of filtration of three surface waters differ in properties, mainly in specific UV absorbance (SUVA254).
Niskociśnieniowe techniki membranowe, ultrafiltracja i mikrofiltracja, stosowane są do oczyszczania i uzdatniania wody. Głównym problem eksploatacyjnym jest zmniejszanie wydajności membrany w trakcie procesu, związane z blokowaniem porów przez substancje organiczne i nieorganiczne (tzw. fouling). Analiza mikroskopem sił atomowych (AFM) umożliwia ilościowe określenie chropowatości powierzchni membrany, co pozwala scharakteryzować powierzchnię membran przed i po foulingu. W artykule przedstawiono wyniki filtracji trzech wód powierzchniowych różniących się głównie specyficzną absorbancją w nadfiolecie (SUVA254).
Źródło:
Ecological Chemistry and Engineering. A; 2012, 19, 12; 1561-1570
1898-6188
2084-4530
Pojawia się w:
Ecological Chemistry and Engineering. A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 27

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies