Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "electronic circuits" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów
An input-output fault detection method of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements
Autorzy:
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/328736.pdf
Data publikacji:
2004
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:
detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
analogowy układ elektroniczny
fault detection
fault localization
analog electronic circuits
Opis:
W artykule przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy i algorytm wyznaczania szerokości pasa lokalizacyjnego. W drugim etapie omówiono algorytm detekcji i lokalizacji uszkodzeń.
In the paper a new approach of fault detection and localisation of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements is described. It consists of two stages. In the first stage a fault dictionary consisting of description of an ellipse, which approximates a nominal area representing a fault-free circuit, and coefficients defining widths of localisation bells are created. A new algorithm of generation of the ellipse and the algorithm of determination of the width of localisation bell are presented. In the second stage the algorithm of fault detection and localisation is described.
Źródło:
Diagnostyka; 2004, 30, T. 1; 119-122
1641-6414
2449-5220
Pojawia się w:
Diagnostyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Evolutionary optimization of Sigma-Delta modulated analog stimulus
Autorzy:
Golonek, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397702.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
analog electronic circuits testing
evolutionary optimization
sigma-delta modulation
pulse density modulation
analogowy układ elektroniczny
optymalizacja ewolucyjna
modulacja sigma-delta
modulacja gęstości impulsów
Opis:
This paper proposes the evolutionary technique of the stimulus signal optimization for the analog electronic circuit testing purpose. The obtained signal is coded with Sigma-Delta modulation usage that allows to generate it easily by simple microcontrollers without the necessity of expensive D/A peripherals applying. The signal with the controlled impulses density may be obtained on the external output terminal of the typical timer and finally, it defines the analog signal that can be reconstructed after low pass filtering.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2015, 6, 4; 130-135
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies