Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "strain engineering" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
SOI nanodevices and materials for CMOS ULSI
Autorzy:
Palestra, F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/308998.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
ballistic transport
gate misalignment
GIFBE
mobility enhancement
SOI
strain engineering
tunneling current
Opis:
A review of recently explored new effects in SOI nanodevices and materials is given. Recent advances in the understanding of the sensitivity of electron and hole transport to the tensile or compressive uniaxial and biaxial strains in thin film SOI are presented. The performance and physical mechanisms are also addressed in multi-gate Si, SiGe and Ge MOSFETs. The impact of gate misalignment or underlap, as well as the use of the back gate for charge storage in double-gate nanodevices and of capacitorless DRAMare also outlined.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2007, 2; 3-13
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies