Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "three-parameter sine-fitting" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Accurate Frequency Estimation Based On Three-Parameter Sine-Fitting With Three FFT Samples
Autorzy:
Liu, X.
Ren, Y.
Chu, C.
Fang, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220451.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
frequency estimation
CRLB
three-parameter sine-fitting
RMSE
golden section
Opis:
This paper presents a simple DFT-based golden section searching algorithm (DGSSA) for the single tone frequency estimation. Because of truncation and discreteness in signal samples, Fast Fourier Transform (FFT) and Discrete Fourier Transform (DFT) are inevitable to cause the spectrum leakage and fence effect which lead to a low estimation accuracy. This method can improve the estimation accuracy under conditions of a low signal-to-noise ratio (SNR) and a low resolution. This method firstly uses three FFT samples to determine the frequency searching scope, then – besides the frequency – the estimated values of amplitude, phase and dc component are obtained by minimizing the least square (LS) fitting error of three-parameter sine fitting. By setting reasonable stop conditions or the number of iterations, the accurate frequency estimation can be realized. The accuracy of this method, when applied to observed single-tone sinusoid samples corrupted by white Gaussian noise, is investigated by different methods with respect to the unbiased Cramer-Rao Low Bound (CRLB). The simulation results show that the root mean square error (RMSE) of the frequency estimation curve is consistent with the tendency of CRLB as SNR increases, even in the case of a small number of samples. The average RMSE of the frequency estimation is less than 1.5 times the CRLB with SNR = 20 dB and N = 512.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 3; 403-416
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies