Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "FIB" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
FIB Method of Sectioning of III-V Core-Multi-Shell Nanowires for Analysis of Core/Sell Interfaces by High Resolution TEM
Autorzy:
Kret, S.
Kaleta, A.
Bilska, M.
Kurowska, B.
Siusys, A.
Dąbrowski, J.
Sadowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1033031.pdf
Data publikacji:
2017-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
nanowires
HRTEM
STEM
EDS
FIB
GaAs
GaAlAs
Opis:
The core-multishell wurtzite structure (In,Ga)As-(Ga,Al)As-(Ga,Mn)As semiconductor nanowires have been successfully grown on GaAs(111)B substrates using MBE technique. The nanowires cores were grown with gold eutectic catalyser in vapour-liquid-solid growth mode. The double shell overgrowth, on the side facets of nanowires, was performed using lower substrate temperature (about 400°C, and 230°C, for (Ga,Al)As, and (Ga,Mn)As shell growth, respectively). The polytypic ordering, defects, chemistry and geometric perfection of the core and the shells have been analysed at atomic level by advanced transmission electron microscope techniques with the use of axial and longitudinal section of individual nanowires prepared by focused ion beam. High quality cross-sections suitable for quantitative transmission electron microscope analysis have been obtained and enabled analysis of interfaces between the core and the shells with near atomic resolution. All investigated shells are epitaxial without misfit dislocations at the interface. Some of the shells thicknesses are not symmetric, which is due to the shadowing effects of neighbouring nanowires and directional character of the elemental fluxes in the MBE growth process.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2017, 131, 5; 1332-1335
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wpływ grubości warstwy DLC na właściwości tribologiczne w tarciu ślizgowym
The effect of the DLC layer thickness on the tribological properties in sliding friction
Autorzy:
Piątkowska, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/189230.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
warstwy DLC
tarcie ślizgowe
zużycie
FIB
DLC layers
sliding friction
wear
Opis:
W pracy przedstawione są wyniki badań tribologicznych wykonanych na próbkach z warstwami o grubości 50 nm, 500 nm i 1300 nm nałożonymi na podłoże ze stali narzędziowej 316L. Warstwy nakładane były metodą RF PACVD. Testy tribologiczne realizowano w węźle tarcia typu kula–powierzchnia płaska z postępowo-zwrotnym ruchem ślizgowym kulki. Grubsze warstwy DLC wykazały stabilny i niski współczynnik tarcia. Ślady tarcia analizowano za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego oraz mikroskopu interferencyjnego. Najmniejsze zużycie zaobserwowano dla próbki z warstwą DLC o grubości 500 nm. Nawet w przypadku intensywnego uszkodzenia, warstwy DLC pełniły funkcję zabezpieczającą i zmniejszały zakres i zmieniały rodzaj zniszczeń.
This paper presents the results of tribological tests made on the samples with a layer thickness of 50 nm, 500 nm and 1300 nm deposited on the surface of 316L tool steel. The DLC layers were made by the RF PACVD method. Tribological tests were carried out on the ball-flat surface friction node, with the reciprocating sliding movement of the ball. The thicker DLC layers showed a stable and low friction coefficient. Friction traces were analysed by scanning electron microscopy and interference microscopy. The lowest wear was observed for the DLC layer with thickness of 500 nm. Even in the case of heavy damage, the DLC layer acted as a protection and reduced the extend and changed the type of damage.
Źródło:
Tribologia; 2012, 3; 137-144
0208-7774
Pojawia się w:
Tribologia
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Classification of internal damages of the sample with a layer based on acoustic emission and microscopic observations
Klasyfikacja uszkodzeń wewnętrznych próbki z warstwą za pomocą metody emisji akustycznej i obserwacji mikroskopowych
Autorzy:
Piątkowska, A.
Kucharski, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/329430.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:
emisja akustyczna
indentacja
pękanie
dekohezja
FIB
acoustic emission
indentation
cracks
decohesion
Opis:
An acoustic emission (AE) method was used to detect internal damages of diamond-likecarbon (DLC) thin layer deposited on silicon substrate. The AE signals were recorded during the entire indentation test using a broadband piezoelectric microsensor with measuring range 80Hz-1950kHz. Depending on the indenter's load, observations of surface by scanning electron microscopy (SEM) did not reveal any damage or showed single small cracks in the Vickers impression area. Therefore, it was assumed that the majority of the AE pulses originate from internal damages. Using the method of Focused Ion Beam (FIB) ion milling, indenter impression cross sections were performed. In this way, internal damages caused by indentation, such as decohesion of DLC-layer, DLC-layer cracking and the Si-substrate cracking, were revealed. As a result of microscopic and AE signal data comparison, it was possible to identify the type of failure and to describe the progress of damage during indentation. The results will be helpful in the selection of parameters during hardness tests of layered materials and in the analysis of the strength properties of the samples with layers.
W niniejszej pracy metoda pomiarów emisji akustycznej (EA) została zastosowana do detektowania wewnętrznych uszkodzeń cienkiej warstwy DLC nałożonej na krzemowe podłoże. Uszkodzenia realizowane były w teście indentacji, a rejestracji sygnałów EA dokonywano podczas całego procesu obciążania i odciążania wgłębnika Vickersa. W zależności od wielkości maksymalnego obciążenia na powierzchni odcisków obserwowano za pomocą mikroskopu skaningowego brak bądź występowanie małych pęknięć warstwy DLC. Zarejestrowane sygnały EA pochodziły głównie z uszkodzeń wewnętrznych, które były ujawnianie za pomocą trawienia wiązką jonów. Zaobserwowano uszkodzenia różnego rodzaju, takie jak dekohezja i pęknięcia lateralne warstwy i/lub podłoża. Za pomocą parametrów sygnału EA możliwe było określenie rodzaju oraz zasięgu wewnętrznych uszkodzeń.
Źródło:
Diagnostyka; 2012, 4(64); 49-53
1641-6414
2449-5220
Pojawia się w:
Diagnostyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zastosowanie metody STEM oraz FIB w badaniach struktury warstwy wierzchniej żarowytrzymałego monokrystalicznego nadstopu niklu po utlenianiu wysokotemperaturowym
Application of STEM and FIB methods in the studies of surface layer structure of heat resistant single crystal nickel superalloy after high temperature oxidation
Autorzy:
Swadźba, R.
Wiedermann, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/181681.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Metalurgii Żelaza im. Stanisława Staszica
Tematy:
żarowytrzymałe nadstopy niklu
utlenianie wysokotemperaturowe
FIB
STEM
heat resistant nickel superalloys
high temperature oxidation
Opis:
W artykule przedstawiono wyniki analizy procesu wzrostu warstwy tlenkowej powstającej na żarowytrzymałym monokrystalicznym nadstopie niklu drugiej generacji podczas utleniania w temperaturze 1050oC przez 100 godzin oraz zachodzące w niej zmiany składu chemicznego i fazowego. Ponadto, analizie poddano procesy segregacji pierwiastków na granicach ziarn warstwy tlenkowej Al2O3 z wykorzystaniem wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej skaningowo transmisyjnej S/TEM. Przedstawiono szczegóły metodyczne przygotowania próbek z warstw tlenkowych metodą Focused Ion Beam (FIB) przeznaczonych do analizy z wykorzystaniem wysokorozdzielczej mikroskopii skaningowo transmisyjnej S/TEM.
The article presents the results of oxide scale growth analysis on a heat-resistant second generation single crystal nickel superalloy during oxidation at the temperature of 1050oC for 100 hours as well as chemical and phase composition changes occurring in it. Moreover, elemental segregation processes on the grain boundaries of Al2O3 oxide scale were analyzed using high resolution scanning transmission electron microscopy S/TEM. Methodological details of sample preparation for high resolution scanning transmission electron microscopy S/TEM analysis using Focused Ion Beam (FIB) method are presented.
Źródło:
Prace Instytutu Metalurgii Żelaza; 2013, T. 65, nr 2, 2; 15-20
0137-9941
Pojawia się w:
Prace Instytutu Metalurgii Żelaza
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Detekcja uszkodzeń pomiarem EA oraz metodami mikroskopowymi
Study of damages detection and identification by the measurements of AE signals and microscopic methods
Autorzy:
Piątkowska, A.
Kucharski, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/256437.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
emisja akustyczna
badanie twardości
uszkodzenie
warstwa węglowa RF PACVD
FIB
acoustic emission
hardness test
damage
RF PACVD layer of carbon
Opis:
W pracy opisane zostały pomiary emisji akustycznej EA generowanych podczas badania mikrotwardości wgłębnikiem Vickersa, na próbkach krzemowej i stalowej 316L z warstwą węglową. Otrzymane wyniki w postaci wykresów w dziedzinie czasu są porównywane z obserwacjami mikroskopowymi. Za pomocą analitycznego elektronowego mikroskopu skaningowego SEM zobrazowano powierzchnie odcisków, z uwidocznieniem powierzchniowych pęknięć i uszkodzeń. Odcisk mikrotwardości został przecięty z użyciem systemu FIB, zapewniającego odsłonięcie rzeczywistej struktury wewnętrznej materiału w otoczeniu odcisku. Wykonanie sekwencji przekrojów pozwoliło na zobrazowanie SEM przestrzenne uszkodzeń, zwłaszcza typu pęknięcia i rozwarstwienia, a także usytuowanie elementów warstwy wierzchniej i podłoża oraz zasięg odkształceń plastycznych. Zastosowanie obu metod pomiarowych: emisji akustycznej oraz obrazowania mikroskopowego, wzajemnie uzupełniających się, daje wnikliwą diagnostykę do analizy właściwości mechanicznych materiału.
The paper describes the measurements of acoustic emission generated during the microhardness Vickers indentation of RF PACVD carbon layer on Si and 316L substrates. The results obtained in the form of graphs in the time domain are compared with microscopic observations. An analytical scanning electron microscope SEM was used to visualize the surface cracks and damages on the indentation print. Cross-section through microhardness indents was made using the FIB system that revealed the real internal structure of the material in the environment of the indent. Execution of a sequence of sections allowed the visualization of spatial defects, especially cracks and delamination, and also the location of the components of the surface layer and the substrate as well as the determination of plastic deformation range. Application of two complementary measurement methods: acoustic emission and detailed microscopic imagining provides a comprehensive diagnostic analysis of the mechanical properties of material.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2012, 1; 17-26
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies