- Tytuł:
-
Measurement of the temperature inside standard integrated circuits
Pomiar temperatury wewnątrz standardowych układów scalonych - Autorzy:
-
Frankiewicz, M.
Kos, A. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/159307.pdf
- Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
- Tematy:
-
pomiar temperatury
ESD
układ scalony
temperature sensing
integrated circuits - Opis:
-
The paper describes method of temperature measurement of standard integrated circuits based on the data from the chip datasheet. Described temperature sensing technique uses built-in ESD protecting diodes. Some tests on LM741 operating amplifier were done. Results were compared with other temperature measurement methods.
Praca opisuje metodę pomiaru temperatury wewnątrz obudowy standardowych układów scalonych z wykorzystaniem danych z noty katalogowej układu. Przedstawiona technika rozpoznawania temperatury oparta jest o wykorzystanie wbudowanych w układ diod zabezpieczających przed wyładowaniami elektrostatycznymi. Dla potwierdzenia przydatności metody wykonano testy z wykorzystaniem wzmacniacza operacyjnego LM741. Wyniki zostały porównane z innymi metodami pomiaru temperatury. - Źródło:
-
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2011, 251; 109-116
0032-6216 - Pojawia się w:
- Prace Instytutu Elektrotechniki
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł