- Tytuł:
-
Wielokanałowy system akwizycji sygnałów wolnozmiennych
Multichannel low frequency signal acquisition system - Autorzy:
-
Golijanek-Jędrzejczyk, A.
Kuciński, M.
Rafiński, L. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/151750.pdf
- Data publikacji:
- 2012
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
karta pomiarowa
DAQ
sygnał wolnozmienny
STM32
acquisition card
low frequency signal - Opis:
-
W artykule zaprezentowano urządzenie służące do pomiaru szesnastu sygnałów napięciowych wolnozmiennych. Przeznaczeniem zaprojektowanego urządzenia jest ułatwienie czynności serwisowych nowoczesnych urządzeń elektronicznych. Informacja o stanie napięć w kluczowych punktach układu (często dostępnych poprzez złącze diagnostyczne) pozwala w sposób natychmiastowy ocenić powód usterki. Założeniem projektowym było utrzymanie niskiej ceny bez utraty kluczowej funkcjonalności.
Service operations always begin with a diagnosis of the malfunctioning device. Trustworthy methods for localisation of a source of damage are key to fast restoration of the equipment efficiency. Most of present electronic equipment have diagnostic connectors which simplify this operation. A measurement of significant voltage signals is the easiest approach to find a failure. In this paper the principles of functioning and a manner of realization of a multichannel low frequency signal acquisition system are presented. The core of the system is a modern microcontroller STM32F103 [1] based on ARM CortexM3 architecture. As a result of this selection a low cost but still powerful acquisition device is built. A low measurement frequency is the effect of project requirements - power supply malfunction is a frequent cause of electrical devices malfunctions. The measurement and analysis of high speed digital transmission signals is a subject of a separate diagnosis problem and is not discussed in the paper. The measurement device design is as simple as possible as an effect of nonindustrial environment and low cost elements used. Tests proved a sufficient level of robustness and measurement ability for the desired diagnostic application. Professional manufacturing of the device is planned after extensive testing. - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 11, 11; 909-911
0032-4140 - Pojawia się w:
- Pomiary Automatyka Kontrola
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł