- Tytuł:
-
Fractal geometries in lateral flux capacitor design – experimental results
Fraktale w projektowaniu kondensatorów z poprzeczną pojemnością – wyniki pomiarów - Autorzy:
-
Kocanda, P.
Kos, A
Gołda, A. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/407780.pdf
- Data publikacji:
- 2015
- Wydawca:
- Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
- Tematy:
-
capacitors
CMOS integrated circuit
fractals
kondensatory
układy scalone CMOS
fraktale - Opis:
-
Capacitance density is increased when lateral flux structures are used in CMOS technologies compared to classic parallel-palate capacitors.
Lateral-flux capacitors where designed based on three different fractal geometries. Capacitors are designed with and without special MMC metal layer
available in some CMOS technologies for capacitor design. For theoretical analysis verification a special ASIC has been designed and fabricated in UMC
0.18um technology. Presented result are obtained by measurement of 5 ICs. Some capacitor structures have much higher capacitance density than classic
parallel-plates capacitor without MMC layer. Few presented structures have higher capacitance density than parallel-plate capacitor made with MMC
layer. Capacitors have small process parameters spread.
W porównaniu do klasycznych kondensatorów z równoległymi okładkami użycie struktur z poprzeczną pojemnością pozwala na zwiększenie gęstości pojemności przy projektowaniu kondensatorów w technologiach CMOS. Kondensatory z poprzeczną pojemnością zostały zaprojektowane na bazie trzech rożnych fraktali. Struktury kondensatorów zostały zaprojektowane z i bez użycia specjalnej warstwy metalu MMC, dostępnej w niektórych technologiach CMOS, do projektowania kondensatorów. Do sprawdzenia teoretycznych rozważań specjalny układ ASIC został zaprojektowany i wykonany w technologii UMC 0.18um. Przedstawione wyniki są efektem pomiarów 5 układów scalonych. Niektóre struktury kondensatorów mają dużo większą gęstość pojemności niż klasyczne kondensatory bez warstwy MMC. Niewiele zaprojektowanych struktur ma większą gęstość pojemności niż kondensatory klasyczne z warstwą MMC. Rozrzut parametrów kondensatorów jest niewielki. - Źródło:
-
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2015, 2; 6-9
2083-0157
2391-6761 - Pojawia się w:
- Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł