Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "XRD (X ray diffraction)" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Metal-titanium oxide / quantum dot porous silicon / silicon-metal solar cell
Autorzy:
Abd, Ahmad Naji
Mishjil, Khudheir A.
Abdulsada, Ali Hamid
Habubi, N. F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1177996.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
AFM
FTIR
TiO2
X-Ray diffraction
XRD
electrochemical etching p-type silicon wafer
nanocrystalline porous silicon
Opis:
In this paper, the nanocrystalline porous silicon (PSi) films are prepared by electrochemical etching of p-type silicon wafer with current density 7 mA/cm2 and etching times on the formation nano-sized pore array with a dimension of around different etching time. The films were characterized by the measurement of XRD, FTIR spectroscopy and atomic force microscopy properties (AFM). We have estimated crystallites size from X-Ray diffraction about nanoscale for porous silicon and Atomic Force microscopy confirms the nanometric size Chemical fictionalization during the electrochemical etching show on the surface chemical composition of PS. The etching possesses inhomogeneous microstructures that contain a-Si clusters (Si3–Si–H) dispersed in amorphous silica matrix. From the FTIR analyses showed that the Si dangling bonds of the as-prepared PS layer have large amount of Hydrogen to form weak Si–H bonds. The atomic force microscopy investigation shows the rough silicon surface, with increasing etching process (current density and etching time) porous structure nucleates which leads to an increase in the depth and width (diameter) of surface pits. Consequently, the surface roughness also increase.
Źródło:
World Scientific News; 2018, 96; 134-148
2392-2192
Pojawia się w:
World Scientific News
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies