- Tytuł:
- X-Ray Photoelectron Spectroscopy - Methodology and Application
- Autorzy:
-
Papis-Polakowska, E.
White, R.
Deeks, C.
Mannsberger, M.
Krajewska, A.
Strupinski, W.
Płocinski, T.
Jankowska, O. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/1364037.pdf
- Data publikacji:
- 2014-04
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
79.60.-i
81.05.ue
68.47.Gh
68.35.bg
68.35.bj - Opis:
- The crucial measurements aspects of X-ray photoelectron spectroscopy, such as chemical state analysis, depth profiling, mapping, and thickness calculation have been presented. The metal alloys, $Ti_2O_5$, graphene and type-II InAs/GaSb superlattice structures have been examined by using the new Thermo Scientific K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer.
- Źródło:
-
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 4; 1061-1064
0587-4246
1898-794X - Pojawia się w:
- Acta Physica Polonica A
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł