Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Berova, M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Ion Beam Induced Darkening in Tetrahedral Amorphous Carbon Thin Films
Autorzy:
Sandulov, M.
Berova, M.
Tsvetkova, T.
Zuk, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1402243.pdf
Data publikacji:
2015-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.05.U-
68.55.Ln
42.70.Ln
Opis:
The samples of thin film (d ≈ 40 nm) tetrahedral amorphous carbon (ta-C), deposited by the filtered cathodic vacuum arc have been implanted with N⁺ at a fluence of 3×10¹⁴ cm¯² and ion energy E=20 keV. The induced structural modification of the implanted material results in a considerable change of its optical properties, best manifested by a significant shift of the optical absorption edge to lower photon energies as obtained from optical transmission measurements. This shift is accompanied by a considerable increase of the absorption coefficient (photodarkening effect) in the measured wavelength range (350÷2500 nm). These effects could be attributed to both the additional defect introduction and the increased graphitization, as confirmed by the X-ray photoelectron spectroscopy measurements. The optical contrast thus obtained (between implanted and unimplanted film materials) could be made use of in the area of high-density optical data storage using the focused ion beams.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2015, 128, 5; 953-956
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies