Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Przeździecka, T." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Photoluminescence Properties of ZnO Nanowires Grown on Ni Substrate
Autorzy:
Zaleszczyk, W.
Fronc, K.
Przeździecka, E.
Janik, E.
Czapkiewicz, M.
Wróbel, J.
Paszkowicz, W.
Kłopotowski, Ł.
Karczewski, G.
Wojtowicz, T.
Presz, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1812028.pdf
Data publikacji:
2008-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.55.Et
78.67.Bf
81.05.Dz
81.07.Bc
Opis:
Photoluminescence studies of zinc oxide nanowires produced by a carbo-thermal method on a nickel foil substrate are reported. Two types of as-grown samples: the first - containing only buffer film, and the second - containing both zinc oxide nanowires and buffer film grown in the same technological process, were investigated by means of the temperature-dependent photoluminescence. X-ray diffraction measurements of buffer film show that it is polycrystalline and is composed from wurtzite-type ZnO (main phase) and includes minority phases: rock salt type (Ni,Zn)O and hexagonal C₃N₄. The shape of the apparently monocrystalline nanowires is characterized by hexagonal section matching with the expectations of the hexagonal ZnO structure. The presence of LO-phonon replicas in photoluminescence spectra for the second sample is used as an argument for confirmation that ZnO nanowires are single crystalline. The method of growth of ZnO nanowires on nickel oxide opens perspectives to produce $Zn_{1-x}Ni_{x}O$ diluted magnetic semiconductor nanowires.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 5; 1451-1456
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Epitaxial ZnO Films Grown at Low Temperature for Novel Electronic Application
Autorzy:
Wachnicki, Ł.
Dużyńska, A.
Domagala, J.
Witkowski, B.
Krajewski, T.
Przeździecka, E.
Guziewicz, M.
Wierzbicka, A.
Kopalko, K.
Figge, S.
Hommel, D.
Godlewski, M.
Guziewicz, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1492723.pdf
Data publikacji:
2011-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.15.Aa
61.05.cp
81.05.Dz
Opis:
Monocrystalline films of zinc oxide were grown at 300C by atomic layer deposition. ZnO layers were grown on various substrates like ZnO bulk crystal, GaN, SiC and $Al_2O_3$. Electrical properties of the films depend on structural quality. Structural quality, surface morphology and optical properties of ZnO films were characterized using X-ray diffraction, scanning electron microscopy, and photoluminescence, respectively. High resolution X-ray diffraction spectra show that the rocking curve FWHM of the symmetrical 00.2 reflection equals to 0.058° and 0.009° for ZnO deposited on a gallium nitride template and a zinc oxide substrate, respectively. In low temperature photoluminescence sharp excitonic lines in the band-edge region with a FWHM equal to 4 meV, 5 meV and 6 meV, for zinc oxide deposited on gallium nitride, zinc oxide and sapphire substrate, respectively.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 6A; A-007-A-010
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies