Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "78.30.Ly" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Spectroscopic Investigation of Rare-Earth Doped Phosphate Glasses Containing Silver Nanoparticles
Autorzy:
Amjad, R.
Sahar, M.
Ghoshal, S.
Dousti, M.
Samavati, M.
Riaz, S.
Tahir, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1400152.pdf
Data publikacji:
2013-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.30.Ly
78.55.-m
78.66.Jg
Opis:
Phosphate glasses having compositions $(59.5-x)P_2O_5-40MgO-xAgCl-0.5Er_2O_3$, where x=0, 1.5 mol.% is prepared using melt-quenching technique. Infrared, absorption and photoluminescence spectra of $Er^{3+}$-doped magnesium phosphate glasses have been reported. The amorphous nature of the host glass is confirmed by X-ray diffraction technique. Transmission electron microscope image confirms the existence of silver nanoparticles inside the glass matrix. The localized surface plasmon resonance band of silver is found to be located around ≈ 528 nm for the $Er^{3+}$ free sample. A frequency upconversion process from infrared to visible is observed on excitation with 797 nm radiation. Furthermore, an enhancement in the emission at 540 nm and 632 nm is found due to the local field effect of silver nanoparticles. Our findings may contribute towards the development of solid state laser and sensors.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2013, 123, 4; 746-749
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Study on the Structure of Defects in a-Si:H Films by Positron Annihilation and Micro-Raman Spectroscopy
Autorzy:
Gordo, P.
de Lima, A.
Ferreira Marques, M.
Kajcsos, Zs.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1812497.pdf
Data publikacji:
2008-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.66.Jg
78.70.Bj
78.30.Ly
Opis:
Thin films of hydrogenated amorphous silicon deposited on glass and crystalline silicon substrates by rf plasma enhanced chemical vapor deposition at different rf power were studied using slow positron beam and the Raman scattering spectroscopy in order to verify the influence of that deposition parameter on the film defect structure and on the degree of disorder. By positron annihilation spectroscopy, it was found that there are mainly two types of defects in the films: large vacancy clusters or voids and small vacancy type defects. By micro-Raman spectroscopy it was observed that the degree of structural disorder is lower for the film with large vacancy clusters and this finding was related to structural relaxation process. Light soaking induced changes attributed to major atomic rearrangements were also observed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 5; 1373-1378
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies