Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Voisin, P." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Breakdown of Rotational Symmetry at Semiconductor Interfaces: a Microscopic Description of Valence Subband Mixing
Autorzy:
Cortez, S.
Krebs, O.
Voisin, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2014160.pdf
Data publikacji:
2000-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.20.Fm
78.20.Jq
Opis:
The recently discovered in-plane optical anisotropy of [001]-grown quantum wells offers a new theoretical and experimental insight into the electronic properties of semiconductor interfaces. We first discuss the coupling of X and Y valence bands due to the breakdown of rotation inversion symmetry at a semiconductor hetero-interface, with special attention to its dependence on effective parameters such as the valence band offset. The intracell localization of Bloch functions is explained from simple theoretical arguments and evaluated numerically from a pseudo-potential microscopic model. The role of envelope functions is then considered, and we discuss the specific case of non-common atom interfaces. Experimental results and applications to interface characterization are presented. These calculations give a microscopic justification, and establish the limits of the heuristic "H$\text{}_{BF}$" model.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2000, 98, 3; 303-323
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies