Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Luciński, T." wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Interface Mixing in Fe/Si Multilayers Observed by the In Situ Conductance Measurements
Autorzy:
Chomiuk, P.
Błaszyk, M.
Szymański, B.
Luciński, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1810582.pdf
Data publikacji:
2009-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.40.Sx
73.50.-h
Opis:
In this contribution the in situ conductance vs. deposition time dependences of Fe/Si multilayers are analysed. The plot of resistance multiplied by the square of the thickness as a function of iron thickness shows that during the iron deposition initially amorphous-like Fe-Si mixture is formed, next the mixture crystallises, and finally bcc-Fe phase appears. The interface mixing is also manifested by the reduction of the total multilayer thickness measured by small angle X-ray diffraction.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 115, 1; 355-356
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
In Situ Conductance of Fe/Si and Fe/Ge Multilayers
Autorzy:
Chomiuk, P.
Błaszyk, M.
Luciński, T.
Wróblewski, M.
Susła, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813491.pdf
Data publikacji:
2008-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.40.Sx
73.50.-h
75.70.Cn
Opis:
In this paper we study Fe/Si and Fe/Ge multilayers prepared at room temperature by magnetron sputtering. In situ conductance measurements reveal the formation of interfacial Fe-Si and Fe-Ge mixtures. During the Fe deposition a modification of growth mode is noticed. Deposition of Si (or Ge) onto Fe leads to the reduction of the Fe layer thickness due to interdiffusion, and Fe-Si (or Fe-Ge) structures appear. Above about 1.3 nm of deposited Si (1.5 nm of Ge) nominally pure Si (Ge) starts growing. Surface topography of the Fe/Si multilayers is studied by atomic force microscopy.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 2; 657-662
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies