Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Pavlík, M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Microstructural Analysis and Transport Properties of $RuO_2$-Based Thick Film Resistors
Autorzy:
Gabáni, S.
Flachbart, K.
Pavlík, V.
Pietriková, A.
Gabániová, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813961.pdf
Data publikacji:
2008-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
85.40.Xx
72.80.-r
73.40.Rw
Opis:
$RuO_2$-based low temperature sensors appear as very good secondary thermometers, mainly in the temperature range below 4.2 K. This is due to their high temperature sensitivity and small magnetoresistance. Both properties are strongly influenced by the manufacturing process (mainly by firing temperature and firing time). In our contribution we show that the microstructure of sensors and the temperature dependence of their resistance R(T) down to 50 mK, in case when all sensors are prepared from the same paste, can be strongly influenced by change of the firing temperature from 800°C to 900°C. The paper also presents results on the X-ray microanalysis and the analysis of electrical conductivity of these sensors.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 1; 625-628
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies