Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Płaczek, G." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Capacitance-Voltage Studies of Ti/p-ZnTe Schottky Barrier Structures Containing CdTe Quantum Dots
Autorzy:
Placzek-Popko, E.
Szatkowski, J.
Zielony, E.
Gumienny, Z.
Dobaczewski, L.
Karczewski, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2048047.pdf
Data publikacji:
2011-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.61.Ga
73.21.La
73.20.Hb
Opis:
In this paper the electronic states of self-organized CdTe quantum dots embedded in ZnTe matrix are studied by means of capacitance-voltage (C-V) characteristics within the temperature range of 180-300 K. A reference diode of the same layer structure but without quantum dots is studied also for comparison. The C-V characteristics measured for the reference diode exhibit bulk behaviour in contrast to the quantum dots sample for which a characteristic step corresponding to discharging of quantum dots is clearly visible within broad range of temperatures. A quasistatic model based on the self-consistent solution of the Poisson equations is used to simulate the capacitance. By comparison the calculated C-V curve with experimental curve the apparent thermal activation energy for hole emission from the quantum dots to the ZnTe matrix is found to be equal to (0.12 ± 0.03) eV.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 5; 621-623
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Hole Traps in ZnTe with CdTe Quantum Dots
Autorzy:
Zielony, E.
Płaczek-Popko, E.
Gumienny, Z.
Trzmiel, J.
Karczewski, G.
Guziewicz, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1791335.pdf
Data publikacji:
2009-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.61.Ga
73.21.La
73.20.Hb
Opis:
In this study the capacitance-voltage (C-V) and deep level transient spectroscopy measurements have been performed on ZnTe (p-type)-Ti/Al Schottky diodes containing a layer of CdTe self-assembled quantum dots and on the reference diodes without dots for comparison. Both kinds of investigated samples were grown by molecular beam epitaxy technique. The dots were formed during the Stransky-Krastanov growth mode. Comparison of the C-V and deep level transient spectroscopy results obtained for both samples allows us to conclude that the 0.26 eV trap observed exclusively for the QD sample can be assigned to some defects in a wetting layer or CdTe/ZnTe interface.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 5; 885-887
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies