Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Weber, J." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Deep Defects in Low-Temperature GaAs
Autorzy:
Korona, K. P.
Muszalski, J.
Kamińska, M.
Weber, E. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1923822.pdf
Data publikacji:
1992-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.55.-i
72.80.Ey
Opis:
Conductivity of GaAs layers grown by molecular beam epitaxy at low substrate temperature (190-200°C) and then annealed at few different temperatures (between 300 and 600°C) were studied. It was confirmed that electron transport is due to hopping between arsenic antisite defects. Parameters describing hopping conductivity and their dependence on temperature of annealing are discussed. Other deep defects with activation energies of 0.105, 0.30, 0.31, 0.47, 0.55 eV were found using photoinduced current transient spectroscopy measurements.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1992, 82, 5; 821-824
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
FFirst TSC and DLTS Measurements of Low Temperature GaAs
Autorzy:
Muszalski, J.
Babiński, A.
Korona, K. P.
Kamińska, E.
Piotrowska, A.
Kamińska, M.
Weber, E. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1891236.pdf
Data publikacji:
1991-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.55.-i
72.80.Ey
Opis:
The first thermally stimulated current (TSC) and deep level transient spectroscopy (DLTS) studies performed on GaAs grown by molecular beam epitaxy (MBE) at low substrate temperatures (LT GaAs) are reported. TSC experiments, conducted on as grown and 400-580°C annealed layers showed domination of arsenic antisite (EL2-like) defect and supported its key role in hopping conductivity. DLTS studies, performed on Si doped and annealed at 800°C layers revealed substantially lower concentration of EL2-like defect and an electron trap of activation energy ΔE = 0.38 eV was found.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1991, 80, 3; 413-416
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies