Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Jansen, R" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Applications of Scanning Tunneling Microscopy To Solid State Physics
Autorzy:
van Kempen, H.
Boon, E. J. G.
van der Wielen, M. C. M. M.
Wildöer, J. W. G.
Prins, M.
Jansen, R.
Schad, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968742.pdf
Data publikacji:
1998-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.16.Ch
68.35.Dv
71.55.Eq
Opis:
Due to the dependence of the tunnel current to material properties like work function, density of states, and spin polarization the scanning tunneling microscope can be used to study a number of solid state physics problems. This will be illustrated with some examples. The presented examples have in common that also the role of the tip properties have to be taken explicitly into account.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 93, 2; 323-331
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies