Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Karwasz, G. P." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Amorphous Carbon Thin Films Deposited on Si and PET: Study of Interface States
Autorzy:
Mariazzi, S.
Macchi, C.
Karwasz, G. P.
Brusa, R. S.
Laidani, N.
Bartali, R.
Gottardi, G.
Anderle, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2043339.pdf
Data publikacji:
2005-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Ac
71.60.+z
73.20.At
78.70.Bj
Opis:
Thin carbon films with various thicknesses, deposited on different substrates (Si and poly-ethylene-terephthalate) at the same operating conditions in a radio frequency plasma enhanced chemical vapour deposition system were characterized by Doppler broadening spectroscopy. The films and the substrates were depth profiled by a slow positron beam. The aim of these measurements was to study the open volume structure and the interface of the films. It was found that, independently from the substrate, the films were homogeneous and exhibited the same open volume distribution. On the contrary, the effective positron diffusion length in the Si substrate was found to change with the thickness of the carbon films. This behaviour was interpreted as a change in the electric field at the carbon/silicon interface.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 107, 5; 842-847
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies