Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "85.70.Ay" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Layer and Interface Structure of CoFe/Ru Multilayers
Autorzy:
Pym, A.
Lamperti, A.
Cardoso, S.
Freitas, P.
Tanner, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1814028.pdf
Data publikacji:
2007-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.10.Kw
68.65.Ac
68.35.Ct
75.50.Kj
85.75.Dd
85.70.Ay
Opis:
Grazing incidence X-ray scattering measurements have been performed to probe the structure of CoFe/Ru layers and their interfaces. It was found that the interface width increased approximately linearly with the layer number from the substrate in a multilayer and that a substantial asymmetry existed between the width of CoFe/Ru and Ru/CoFe interfaces. By co-minimizing both the specular and diffuse scatter with that simulated from a model structure, the topological roughness amplitude was determined to be comparable to the intermixing interface width.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2007, 112, 6; 1243-1248
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies