Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Frątczak, E." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Sputtering and Implantation of VV-6025X Surface with Slow Heavy Ions Monitored with PIXE
Autorzy:
Antoszewska, M.
Balcerski, J.
Brzozowski, R.
Dolecki, K.
Frątczak, E.
Gwizdałła, T.
Pawłowski, B.
Moneta, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1367499.pdf
Data publikacji:
2014-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
34.35.+a
61.80.Lj
Opis:
In this work the characteristic radiation, emitted during interaction of medium energy (200 keV) ambient heavy ions (Ar) with $Fe_{4}Co_{66}Si_{12}B_{14}Nb_{1}Mo_{2}Cu_{1}$ (VV-6025X) amorphous alloy, was measured in grazing incident-exit angle geometry and in time sequence, in order to determine dynamics of formation of subsurface region, damaged through implantation, sputtering and interface mixing. It was shown that structure and composition of surface is unstable against heavy ions irradiation due to preferential sputtering and implantation of ions, and recoils, and that the dynamics of such modification can be monitored in-situ with particle induced X-ray emission (PIXE) method.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 126, 1; 136-137
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies