Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Williams, E. J." wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Epitaxially Induced Defects in Sr- and O-doped La$\text{}_{2}$CuO$\text{}_{4}$ Thin Films Grown by MBE: Implications for Transport Properties
Autorzy:
Locquet, J.-P
Williams, E. J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1964235.pdf
Data publikacji:
1997-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.72.Nn
74.62.Fj
81.15.Hi
74.72.Dn
Opis:
In this paper, the critical role played by various types of defects and strain relaxation mechanisms in high-T$\text{}_{c}$ thin films is highlighted and illustrated with examples. The defects are essential for providing adequate diffusion channels for oxygen ingress during the cooling step in c-axis thin films. The operation of strain relaxation mechanisms necessitated by the lattice mismatch between film and substrate can impose a compressive or tensile biaxial pressure, which either increases or reduces the critical temperature.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 1; 69-84
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies