Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "68.35.Bs" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
High Quality (100) and (001) Oriented Substrates Prepared from Czochralski Grown SrLaGaO$\text{}_{4}$ and SrLaAlO$\text{}_{4}$ Single Crystals
Autorzy:
Berkowski, M.
Fink-Finowicki, J.
Sass, J.
Mazur, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1964370.pdf
Data publikacji:
1997-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.10.Fq
61.50.Ks
68.35.Bs
Opis:
The growth of SrLaGaO$\text{}_{4}$ and SrLaAlO$\text{}_{4}$ crystals on ⟨100⟩ and ⟨001⟩ oriented seeds was investigated. Various defects, which appeared in crystals grown on these two orientations, were observed in polarized light and by X-ray diffraction topography. It was found that to obtain a substrate of the best quality, the crystal should be cut along the growth directions. Therefore, crystals pulled along ⟨100⟩ direction are utilized for preparation of (001) substrates, whereas (100) substrates are better to cut from crystals grown on ⟨001⟩ seed. The quality of the prepared substrates was determined by high resolution X-ray diffraction study in terms of rocking curve and mean mosaic angle.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 1; 201-204
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
X-Ray Diffraction Investigations of NdGaO$\text{}_{3}$ Single Crystal
Autorzy:
Mazur, K.
Sass, J.
Giersz, W.
Reiche, P.
Schell, N.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1964526.pdf
Data publikacji:
1997-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.10.Fq
61.50.Ks
68.35.Bs
Opis:
Neodymium gallium perovskite single crystals grown with the Czochralski method were examined with several complementary X-ray methods. By means of X-ray diffraction topography and reciprocal space diagram the structural perfection and crystal homogeneity of the studied wafers were determined. Additionally, the results of the X-ray reflectometry investigations of the surface perfection after the mechanochemical treatment are presented.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 1; 226-230
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies