Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Reza, M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Spectroscopic Ellipsometry of Porphyrin Adsorbed in Porous Silicon
Autorzy:
Babonas, G.
Snitka, V.
Rodaitė, R.
Šimkienė, I.
Rėza, A.
Treideris, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1178739.pdf
Data publikacji:
2005-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.68.+m
61.43.-j
61.43.Gt
Opis:
Aqueous solution of meso-tetra(4-sulfonatophenyl)porphine was deposited on electrochemically etched n-Si wafers. The morphology of the hybrid systems was investigated by scanning electron microscope and atomic force microscope techniques. The optical response of the hybrid systems was studied by spectroscopic ellipsometry in the range of 1-5 eV. Particular features in adsorption process were revealed for meso-tetra(4-sulfonatophenyl)porphine deposited on variously chemically treated Si substrates. It was found that porphyrin J-aggregates can be intercalated into large pores formed in a bulk n-Si as well as into nanopores of luminescent oxide layer.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 107, 2; 319-323
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies