Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Domagała, D." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Rocking Curve Imaging Studies of Laterally Overgrown GaAs and GaSb Epitaxial Layers
Autorzy:
Wierzbicka, A.
Lübbert, D.
Domagała, J.
Zytkiewicz, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1791425.pdf
Data publikacji:
2009-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cp
68.55.ag
81.15.Lm
Opis:
X-ray rocking curve imaging technique was used to study crystallographic perfection of laterally overgrown epitaxial structures. We focus on rocking curve imaging studies of Si-doped GaAs and GaSb laterally overgrown layers grown by liquid phase epitaxy on $SiO_{2}$ masked GaAs and GaSb/GaAs substrates, respectively. High spatial resolution offered by rocking curve imaging technique allows studying the effect of laterally overgrown epitaxial wing tilt towards the mask. Distribution of tilt magnitude over the area of laterally overgrown epitaxial stripes is easily determined. In heteroepitaxial GaSb/GaAs laterally overgrown epitaxial structures local mosaicity in the wing area was detected. Since individual grains are clearly visible on rocking curve imaging maps, their size and relative misorientation can be determined.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 5; 976-978
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Epitaxial ZnO Films Grown at Low Temperature for Novel Electronic Application
Autorzy:
Wachnicki, Ł.
Dużyńska, A.
Domagala, J.
Witkowski, B.
Krajewski, T.
Przeździecka, E.
Guziewicz, M.
Wierzbicka, A.
Kopalko, K.
Figge, S.
Hommel, D.
Godlewski, M.
Guziewicz, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1492723.pdf
Data publikacji:
2011-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.15.Aa
61.05.cp
81.05.Dz
Opis:
Monocrystalline films of zinc oxide were grown at 300C by atomic layer deposition. ZnO layers were grown on various substrates like ZnO bulk crystal, GaN, SiC and $Al_2O_3$. Electrical properties of the films depend on structural quality. Structural quality, surface morphology and optical properties of ZnO films were characterized using X-ray diffraction, scanning electron microscopy, and photoluminescence, respectively. High resolution X-ray diffraction spectra show that the rocking curve FWHM of the symmetrical 00.2 reflection equals to 0.058° and 0.009° for ZnO deposited on a gallium nitride template and a zinc oxide substrate, respectively. In low temperature photoluminescence sharp excitonic lines in the band-edge region with a FWHM equal to 4 meV, 5 meV and 6 meV, for zinc oxide deposited on gallium nitride, zinc oxide and sapphire substrate, respectively.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 6A; A-007-A-010
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies