Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Ehresmann, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Hard and Soft X-Ray Reflectivity Studies οf $(NiFe//Au//Co//Au)_{10}$ Magnetic Multilayers
Autorzy:
Szymański, B.
Stobiecki, F.
Weis, T.
Engel, D.
Urbaniak, M.
Kuświk, P.
Lengemann, D.
Ehresmann, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1810593.pdf
Data publikacji:
2009-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cm
75.60.-d
75.70.-i
Opis:
We report on hard and soft X-ray reflectivity investigations of $(Ni_{80}Fe_{20} (2.2 nm)//Au(2.3 nm)//Co(0.8 nm)//Au(2.3 nm))_{10}$ multilayers. Specular reflectivity curves were measured with Cu $K_{α}$ radiation and circularly polarized synchrotron radiation tuned to Co $L_{3}$ and Ni $L_{3}$ absorption edges. Structural properties of the multilayers were determined from the hard X-ray reflectivity curve. Comparison of reflectivity curves taken at different photon energies shows: (i) small difference in peak positions in dependence of reflectivity versus scattering vector q, (ii) different shapes of satellite Bragg peaks, (iii) different ranges of q for appearance of the Kiessig fringes. Analysis of soft X-ray reflectivity curves taken as a function of magnetic field allows to determine magnetic properties of Co and NiFe layer specifically.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 115, 1; 366-368
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies