Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "77.55.hf" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Investigation of Porous Zn Growth Mechanism during Zn Reactive Sputter Deposition
Autorzy:
Borysiewicz, M.
Wojciechowski, T.
Dynowska, E.
Kamińska, E.
Piotrowska, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1198573.pdf
Data publikacji:
2014-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
52.70.-m
81.15.Cd
77.55.hf
81.10.Pq
52.27.Cm
Opis:
Ar-O-Zn plasma discharges created during DC reactive magnetron sputtering of a Zn target and RF reactive magnetron sputtering of a ceramic ZnO target were investigated and compared by means of the Langmuir probe measurements in order to determine the mechanism of growth of porous Zn films during DC-mode Zn reactive sputtering. The power supplied to the magnetrons during the sputtering was kept at 125 W and the plasma was characterised as a function of oxygen content in the sputtering gas mixture, ranging from 0 to 60% for two gas pressures related to porous Zn film deposition, namely 3 mTorr and 5 mTorr. Based on the correlation of plasma properties measurements with scanning electron microscope imaging and X-ray diffraction of the films deposited under selected conditions it was found that the growth of porous, polycrystalline Zn films was governed by high electron density in the plasma combined with a high electron temperature and an increased energy of the ions impinging on the substrate.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 5; 1144-1148
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies