Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "42.79.Ci" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Nanometer-Scale Incoherent Imaging Using Laser-Plasma EUV Source
Autorzy:
Wachulak, P.
Bartnik, A.
Fiedorowicz, H.
Kostecki, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1490098.pdf
Data publikacji:
2012-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
52.38.Ph
52.50.Dg
41.50.+h
42.30.Va
42.79.Ci
Opis:
Various imaging methods and techniques capable of reaching a nanometer spatial resolution are currently under development. One of them is an extreme ultraviolet microscopy, based on the Fresnel zone plates. In this paper a compact, high-repetition, laser-plasma EUV source, with a gas puff target, capable of emitting quasi-monochromatic radiation at 13.8 nm wavelength was used in the first demonstration of a desk-top EUV transmission microscopy with a spatial (half-pitch) resolution of 50 nm. EUV microscopy images of objects with various thicknesses and the spatial resolution measurements using the knife-edge test are presented.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 121, 2; 450-453
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies