Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Samberg, D." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Hard X-ray Microscopy with Elemental, Chemical and Structural Contrast
Autorzy:
Schroer, C.
Boye, P.
Feldkamp, J.
Patommel, J.
Schropp, A.
Samberg, D.
Stephan, S.
Burghammer, M.
Schöder, S.
Riekel, C.
Lengeler, B.
Falkenberg, G.
Wellenreuther, G.
Kuhlmann, M.
Frahm, R.
Lützenkirchen-Hecht, D.
Schroeder, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1539040.pdf
Data publikacji:
2010-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.37.Yz
41.40.th
Opis:
We review hard X-ray microscopy techniques with a focus on scanning microscopy with synchrotron radiation. Its strength compared to other microscopies is the large penetration depth of hard x rays in matter that allows one to investigate the interior of an object without destructive sample preparation. In combination with tomography, local information from inside of a specimen can be obtained, even from inside special non-ambient sample environments. Different X-ray analytical techniques can be used to produce contrast, such as X-ray absorption, fluorescence, and diffraction, to yield chemical, elemental, and structural information about the sample, respectively. This makes X-ray microscopy attractive to many fields of science, ranging from physics and chemistry to materials, geo-, and environmental science, biomedicine, and nanotechnology. Our scanning microscope based on nanofocusing refractive X-ray lenses has a routine spatial resolution of about 100 nm and supports the contrast mechanisms mentioned above. In combination with coherent X-ray diffraction imaging, the spatial resolution can be improved to the 10 nm range. The current state-of-the-art of this technique is illustrated by several examples, and future prospects of the technique are given.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 2; 357-368
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies