Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "pattern test" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Analysis of multibackground memory testing techniques
Autorzy:
Mrozek, I.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/907769.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Tematy:
testowanie RAM
błąd wzoru
test krokowy
RAM testing
pattern sensitive faults
march tests
multibackground testing
Opis:
March tests are widely used in the process of RAM testing. This family of tests is very efficient in the case of simple faults such as stuck-at or transition faults. In the case of a complex fault model-such as pattern sensitive faults-their efficiency is not sufficient. Therefore we have to use other techniques to increase fault coverage for complex faults. Multibackground memory testing is one of such techniques. In this case a selected March test is run many times. Each time it is run with new initial conditions. One of the conditions which we can change is the initial memory background. In this paper we compare the efficiency of multibackground tests based on four different algorithms of background generation.
Źródło:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science; 2010, 20, 1; 191-205
1641-876X
2083-8492
Pojawia się w:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Address sequences and backgrounds with different Hamming distances for multiple run March tests
Autorzy:
Yarmolik, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/907905.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Tematy:
pamięć o dostępie swobodnym
testowanie pamięci
adres pamięci
kod Graya
odległość Hamminga
random-access memory (RAM)
memory testing
March memory test
neighbourhood pattern sensitive faults
memory address
memory background
Gray code
hamming distance
Opis:
It is widely known that pattern sensitive faults are the most difficult faults to detect during the RAM testing process. One of the techniques which can be used for effective detection of this kind of faults is the multi-background test technique. According to this technique, multiple-run memory test execution is done. In this case, to achieve a high fault coverage, the structure of the consecutive memory backgrounds and the address sequence are very important. This paper defines requirements which have to be taken into account in the background and address sequence selection process. A set of backgrounds which satisfied those requirements guarantee us to achieve a very high fault coverage for multi-background memory testing.
Źródło:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science; 2008, 18, 3; 329-339
1641-876X
2083-8492
Pojawia się w:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies