- Tytuł:
- A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
- Autorzy:
-
Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/298112.pdf
- Data publikacji:
- 2012
- Wydawca:
- Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie
- Tematy:
-
mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography - Opis:
- The paper presents recent results from studies of a surface topography of a platinum calibration grid on silicon substrate obtained in both contact and tapping modes of the AFM microscope. The results are analyzed in order to determine the influence of the scan set-up and the SPM probe onto estimated fractal parameters and surface anisotropy ratio.
- Źródło:
-
Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn; 2012, 15(2); 307-318
1505-4675
2083-4527 - Pojawia się w:
- Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł