Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "measurement of impedance" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    Niepewność pomiaru impedancji metodami algorytmicznymi
    Impedance measurement uncertainty added by algorithmic methods
    Autorzy:
    Augustyn, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153521.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    niepewność
    pomiary składowych impedancji
    algorytmy pomiarowe
    uncertainty
    measurement of impedance components
    measurement algorithms
    Opis:
    W artykule przedstawiono ocenę niepewności pomiaru impedancji, wyznaczonej w układzie pomiarowym z dwukanałowym przetwornikiem próbkującym. Wykorzystując metodę Monte Carlo, przeanalizowano wpływ błędu dynamicznego oraz błędu kwantowania na rozkład prawdopodobieństwa błędu składowych impedancji. Porównano propagację tych błędów dla trzech algorytmów wykorzystujących ciągi próbek napięcia i prądu, pobranych w czasie trwania okna pomiarowego równego okresowi napięcia wymuszającego. Na podstawie otrzymanego rozkładu prawdopodobieństwa wyznaczono wartość rozszerzonej niepewności pomiaru składowych impedancji.
    The article presents estimation of the impedance measurement uncertainty determined in the measurement circuit with two-channel sampling sensor. Using Monte Carlo method, influence of dynamic error and quantisation error on the probability distribution of impedance components error has been analysed. Comparison has been made of these errors propagation for three algorithms using sequences of voltage and current samples taken during the measurement window equal to the period of sinusoidal forcing voltage. On the basis of the obtained probability distribution, the value of the expanded uncertainty of impedance components has been determined.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 10, 10; 3-6
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Algorytm estymacji składowych impedancji w trójkanałowym układzie akwizycji danych
    Impedance component estimation algorithm in a three-channel data acquisition system
    Autorzy:
    Augustyn, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/158492.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    algorytmy pomiarowe
    analiza głównych składowych
    dopasowanie do elipsy
    pomiary składowych impedancji
    measurement algorithms
    principal component analysis
    ellipse fitting algorithm
    measurement of impedance components
    Opis:
    W artykule przedstawiono algorytm do estymacji składowych impedancji, wyznaczonych na podstawie spróbkowanych wartości napięć związanych z tą impedancją oraz napięcia generatora zasilającego układ pomiarowy. W celu wykorzystania algorytmu dopasowania do elipsy, do zredukowania wymiaru macierzy danych wejściowych, zastosowano analizę głównych składowych. Uzyskane wyniki porównano z algorytmem dopasowania do elipsy dla danych pierwotnych, nie uwzględniających ograniczenia wynikającego z pomiaru napięcia generatora.
    The paper presents an algorithm for estimating impedance components that were determined on the basis of sampled voltages associated with this impedance as well as a voltage of the signal generator feeding the measuring system. Since all signal processing circuit elements introduce errors, a set of N points described by equations (5) does not lie on the plane but it creates a cloud in the 3-D space. To determine the parameters of the plane (5b) on which the measurement results should be located, the principal component analysis can be used [10]. In this method the data dimension is reduced by searching for a plane which maximizes the variance of the data collected in X. For sequences of the sampled signal values, the covariance matrix of a sample (6) can be calculated. Then there are determined eigenvalues λ and eigenvectors aj of the covariance matrix C. A base of the plane which is the best 2-D approximation of the data contained in X is defined by the eigenvectors a1 and a22. For the determined base of the plane, the data can be transformed to the coordinate system defined by the vectors a1 and a2 (8). The adjusted coordinate values of points in the coordinate system Oxyz, are obtained after transformation (9). The first two columns of this matrix are the input data for the ellipse-fit algorithm. The results obtained with use of the principal component analysis were compared with those from the ellipse-fit algorithm for raw data, without taking into account constraints of the generator voltage measurement. Properties of the proposed algorithm and particularly the influence of incoherent sampling were examined with the Monte Carlo method. The influence of incoherent sampling on the random characteristics of the relative measurement error of impedance components is shown in Fig. 3 in the form of histograms of error values of the module δ|Z| and the phase angle δφ of the impedance Z.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 1, 1; 1-5
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Szacowanie niepewności aparaturowej w algorytmicznych pomiarach impedancji metodą Monte Carlo
    Estimation of the instrument uncertainty in an algorithmic impedance measurements by Monte Carlo method
    Autorzy:
    Augustyn, J.
    Misiowiec, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156589.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    algorytmy pomiarowe
    dopasowanie do sinusoidy
    dopasowanie do elipsy
    analiza głównych składowych
    pomiary składowych impedancji
    metoda Monte Carlo
    budżet niepewności
    measurement algorithms
    sine fitting
    ellipse fitting
    principal component analysis
    measurement of impedance components
    Monte Carlo method
    uncertainty budget
    Opis:
    W artykule przedstawiono ocenę niepewności aparaturowej pomiaru modułu i kąta fazowego impedancji za pomocą algorytmu dopasowania do sinusoidy oraz dwóch wersji algorytmu dopasowania do elipsy - klasycznej i zmodyfikowanej o algorytm analizy składowych głównych. Metodą Monte Carlo wyznaczono budżety niepewności dla badanych algorytmów oraz macierze niepewności. Wykazano, że podstawowym źródłem niepewności aparaturowej jest błąd wzmocnienia - dla modułu impedancji i szum wejściowy - dla kąta fazowego.
    An estimation of the instrument uncertainty of magnitude and phase angle measurement of impedance by using sine fitting algorithm, and the two versions of ellipse-fitting algorithm – the classical and the modified by algorithm of principal component analysis (PCA) is presented in the paper. In the sine fitting algorithm, based on LMS method, the values of orthogonal components of voltage and current (3) are used to calculate the impedance components |Z| and , from Eq. (4). In the classical ellipse fitting algorithm, based on the determined value of the parameter vector a (Eq. (6)), the impedance components are calculated from Eq. (7). In the modified ellipse fitting algorithm, the measuring system is supplemented by an additional acquisition channel of the generator signal. The classical ellipse fitting algorithm is then preceded by a fitting to the plane algorithm, using the method of principal components analysis [7]. Histograms in Figs. 1 and 2 show relative measurement errors impedance components obtained by the Monte Carlo method. Uncertainty budgets were determined for the tested algorithms as well as the uncertainty matrices. In the Tabs. 2 and 3 are shown the contributions to the standard uncertainty of the various uncertainty sources. It has been shown that the basic source of the uncertainty is the gain error - for the magnitude of impedance, and the input noise - for the phase angle. Components values of the combined standard uncertainty of impedance values estimation and the shape of probability distribution depend on the form of a processing algorithm.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 6, 6; 395-397
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wpływ wybranych błędów cząstkowych na dokładność pomiaru impedancji pętli zwarciowej
    Influence of some component errors on the loop impedance measurement accuracy
    Autorzy:
    Ziółko, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155994.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    pomiary impedancji pętli zwarciowej
    błędy pomiaru okresu
    loop impedance measurement
    errors of period measurement
    Opis:
    Mierzoną wartość impedancji pętli zwarciowej otrzymuje się na podstawie pomiaru dwóch wartości napięć dla obwodu nieobciążonego oraz obciążonego, najczęściej rezystancją, która stanowi sztuczne zwarcie. W referacie przedstawiono analizę wpływu błędu pomiaru okresu napięcia sieci na dokładność wyznaczenia impedancji, dla metod wykorzystujących pomiary wartości skutecznych napięć. Jak pokazały przeprowadzone badania nawet niewielkie błędy pomiaru okresu mogą mieć istotny wpływ na dokładność wyznaczenia szukanej impedancji.
    A measured loop impedance value is obtained by measuring two voltage values for unloaded and loaded circuit [1], most often with resistive load, which is an artificial short-circuit (Fig. 1). The paper presents analysis of the impact of the voltage period measurement error on the loop impedance measurement accuracy for the methods based on the value of RMS voltages. For the assumed parameters of the circuit under test [3, 4, 5] there is performed analysis of the period measurement error (Fig. 3), and resulting from it the RMS voltage designation error (Fig. 4). Subsequently, there are shown the results of studies on the effects of these errors on the loop impedance measurement (Fig. 5). As studies have shown, even small errors of the period measurement, which for the assumed parameters of the circuit under test may reach the values between 0,05% and 0,18%, may have a significant impact on the accuracy of the loop impedance measurement. The loop impedance measurement error can reach the values of approximately 4%.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 12, 12; 1583-1585
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Sieć sztuczna elementem toru pomiarowego
    Line Impedance Stabilization Network as an element of measuring circuit
    Autorzy:
    Ruszel, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153530.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    sieć sztuczna
    zaburzenia przewodzone
    pomiary zakłóceń
    Line Impedance Stabilization Network
    Conducted EM disturbances
    Measurement of EMI
    Opis:
    Pomiar energii przewodzonych zaburzeń elektromagnetycznych, generowanych przez badane urządzenie wymaga stosowania sieci sztucznej. Stanowi ona w tym przypadku element toru pomiarowego. Niniejsze opracowanie jest krótką analizą określającą główne aspekty wpływu sieci sztucznej na wynik pomiaru wartości energii (napięcia) zaburzeń przewodzonych. Przytoczony sposób analizy może być zastosowany dla sieci sztucznej o dowolnej strukturze. Precyzyjne pomiary wartości energii zakłóceń, o błędzie pomiaru mniejszym niż 2dBžV, wymagają uwzględnienia poprawek. Wartość tych poprawek, w funkcji częstotliwości, najlepiej określić indywidualnie dla danej sieci sztucznej. Można je wyznaczyć sposobem zastosowanym w niniejszej publikacji.
    The measurement of energy of conducted electromagnetic disturbances generated by tested equipment requires application of artificial mains network (AMN) known also as Line Impedance Stabilisation Network (LISN). In this case this network is a part of a measuring chain. This paper contains a short analysis presenting key aspects of LISN influence on the result of energy value measurement of conducted disturbances. The method of analysis might be applicable for the LISN of any structure. Precise value measurements of the energy of conducted EM distortions with a measurement error (or uncertainty) less than 2,0dBžV require taking into account correction factors. Values of these factors as a frequency function shall be specified at best individually for a given LISN. They can also be determined with the use of the method as applied in the paper hereof.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 10, 10; 25-28
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Kryterium doboru częstotliwości w pomiarach identyfikacyjnych metodą odwrotnego przekształcenia biliniowego
    Frequencies selection criteria for parameter identification based on reverse bilinear transformation
    Autorzy:
    Niedostatkiewicz, M.
    Zielonko, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/158042.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    pomiary identyfikacyjne obiektów technicznych
    identyfikacja parametryczna
    transformacja biliniowa
    spektroskopia impedancyjna
    identification measurement of technical objects
    parameter identification
    bilinear transformation
    impedance spectroscopy
    Opis:
    W pracy przedstawiono badania porównawcze nowych kryteriów doboru częstotliwości dla pomiarów identyfikacyjnych obiektów technicznych modelowanych za pomocą dwójników wieloelementowych metodą odwrotnego przekształcenia biliniowego. Metoda pozwala skrócić czas identyfikacji w porównaniu z konwencjonalną spektroskopię impedancyjną. Badane kryteria są oparte na wrażliwości wielkoprzyrostowej, reprezentowanej przez długości łuków krzywych identyfikacyjnych przekształcenia biliniowego.
    The paper presents the comparison of new frequency selection criteria for the method of parameter identification of technical objects modelled by two terminal networks, based on inverse bilinear transformation. The method allows to reduce the identification time as compared to conventional impedance spectroscopy based approach. The tested criteria have been based on high-signal sensitivity represented by the length of bilinear transform identification curves
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 213-216
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies