Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "electron emission" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Analiza wrażliwościowa spektrometru mas z innowacyjnym układem polaryzacji źródła elektronów
Sensitivity analysis of mass spectrometer with innovative biasing system ofin an electron source
Autorzy:
Sikora, J.
Szczepaniak, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155334.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
wrażliwość
spektrometr mas
układ polaryzacji
prąd emisji elektronowej
napięcie przyśpieszające
sensitivity
mass spectrometer
biasing system
ion current
electron emission current
accelerating voltage
Opis:
Praca prezentuje wyniki badań wrażliwości spektrometru mas z nowatorskim układem polaryzacji źródła elektronów, zapewniającym niezależny dobór natężenia prądu emisji elektronowej i napięcia przyśpieszającego elektrony. Dzięki takiemu rozwiązaniu możliwe jest wyznaczenie wrażliwości natężenia prądu jonowego niezależnie względem natężenia prądu emisji elektronowej i napięcia przyśpieszającego elektrony. Badania objęły również pozostałe charakterystyki spektrometru mas oraz wrażliwości natężenia prądu jonowego względem ciśnienia i napięcia przyspieszającego jony. Wyniki potwierdzają zalety nowego rozwiązania w spektrometrze mas.
The sensitivity measurement results of a mass spectrometer (Fig. 1) with an innovative biasing system in an electron source [1] are presented. The biasing system ensures that an accelerating voltage and an electron emission current are independent of each other. Owing to that, the sensitivity of an ion current versus the electron emission current (Fig. 2), and independently versus the electron accelerating voltage (Fig. 3) can be determined. The researches included the determination of the mass spectrometer characteristics and sensitivity of the ion current in function of a pressure (Fig. 4.) and the ion current in function of an ion accelerating voltage (Fig. 5, Fig. 6). The results confirm that new biasing system is highly suitable for the mass spectrometer.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 3, 3; 256-259
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies