Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Gilewski, W." wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Optymalizacja parametrów dyskretyzacji w systemach diagnostyki obrazowej
Optimization of discretization parameters in the image diagnostics systems
Autorzy:
Owieczko, W.
Gilewski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159073.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
analiza obrazu
dyskretyzacja
elementy konturowe
image analysis
discretization
contour elements
Opis:
W artykule przedstawiono model analizy, pozwalający dokonać optymalizacji parametrów dyskretyzacji obiektów obrazu. Wyznaczono graniczne wartości współczynnika zmiennych konturowych i na ich podstawie określono zakresy elementarnych przyrostów powierzchni prze-działowych. Wykorzystując parametr modelu, zaproponowano algorytm oraz dokonano oceny wartości błędów dyskretyzacji powierzchni obiektów.
The model for analysis of optimization of objects discretization parameters was shown in the paper. Border values of contours coefficient variables were determined and on the basis of that the intervals of areas increases were defined. The algorithm was proposed on the strength of the models parameters. For the objects area, the estimations of discretization error value, were made.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2015, 269; 83-90
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zastosowanie kamery smugowej do pomiaru LED-owych źródeł promieniowania
Application of a streak camera to measure led light sources
Autorzy:
Gilewski, M.
Owieczko, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159835.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
pomiar promieniowania optycznego
LED-owe źródła światła
kamera smugowa
measurements of optical radiation
LEDs source
streak camera
Opis:
W artykule opisano możliwość zastosowania kamery smugowej do pomiaru wybranych, widmowych i czasowych parametrów LED-owych źródeł światła. Omówiono w nim również przebieg procesu pomiarowego z użyciem tego przyrządu. Następnie przedstawiono sposób wyznaczania charakterystyk widmowych i czasowych źródła promieniowania. W końcowej części artykułu dokonano porównania opisanej techniki pomiarowej w stosunku do stosowanych innych metod i przyrządów pomiarowych.
This article describes the possibility of using the streak camera to measure chosen parameters of LED sources – like transient and spectral characteristics. It discusses a measurement process flow using a tracer camera. Then was presented a method for measuring the spectral and transient parameters of radiation. In the final part of the paper, there was compared this measurement method in relation to the alternative solutions.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2016, 273; 163-172
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies