Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Sharma, C.M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Computational Analysis of Screening Unit of Paper Plant with Human Error Using Neural Network Approach
Autorzy:
Sharma, Neelam
Gupta, Ritu
Batra, C. M.
Ekata, Ekata
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1159859.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
Neural Network
cost factor
neural weights
non-reliability
reliability
Opis:
Recent approach of Neural Network can be applied to solve a wide range of optimization problems. This paper deals with reliability, non-reliability and profit analysis of a paper plant. The objective of this paper is to compute profit of paper plant using neural network Algorithm and to analyze the availability of the system. The system is divided into four main subsystems. A multi-layered neural network model is used in order to optimize the maintenance of the paper plant system. The system may fail due to hardware failure with human errors and various environmental conditions. All types of failures, repairs and waiting rates are exponential. System state probabilities and other parameters are developed for the proposed model using neural network approach. Numerical examples are included to demonstrate the results.
Źródło:
World Scientific News; 2018, 113; 226-237
2392-2192
Pojawia się w:
World Scientific News
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies