Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "degradation testing" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Accelerated storage degradation testing and failure mechanisms of aerospace electromagnetic relay
    Badania przyspieszone degradacji w czasie składowania przekaźników elektromagnetycznych stosowanych w przemyśle lotniczym oraz mechanizmów ich uszkodzeń
    Autorzy:
    Wang, Z. B.
    Shang, S.
    Wang, J.-W.
    Huang, Z.-L.
    Sai, F.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/302000.pdf
    Data publikacji:
    2017
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    electrical contact
    electromagnetic relay
    failure mechanisms
    storage reliability
    degradation testing
    Styk elektryczny
    przekaźnik elektromagnetyczny
    mechanizmy uszkodzeń
    niezawodność składowania
    badania degradacji
    Opis:
    It is difficult to obtain the failure data of high-reliability and long-lifetime aerospace electromagnetic relay (EMR), even if based on the traditional accelerated storage life testing method. Based on the reliability test technique, the scheme of accelerated degradation testing for aerospace EMR was designed. The test system of aerospace electromagnetic relay storage parameters under temperature-accelerated stress was designed and developed. The most past research on storage reliability of relay only focuses on the measurement of contact resistance. The relay time parameters (pick-up time, opening time, overtravel time, rebound duration time, etc.) which reflect main performance function were not monitored. So, in this study the relay time parameters and relay contact resistance were detected simultaneously. According to the analysis on experiment results of contact resistance, relay time parameters, the degradation phenomena of aerospace EMR in long-term storage are investigated, which provides the bases for determining degradation sensitive parameters. Finally, based on the structure and function of aerospace EMR, the storage failure mechanism is investigated by conductive properties themselves. The microscopic morphology and changes in chemical elements for relay contact surface was analyzed by SEM and EDX regularly, which provide references for the relay storage failure mechanism.
    Ze względu na wysoką niezawodność i długi cykl życia przekaźników elektromagnetycznych stosowanych w przemyśle lotniczym (EMR), trudno jest uzyskać dane o ich uszkodzeniach, nawet gdy korzysta się z tradycyjnej metody przyspieszonych badań dopuszczalnego okresu składowania. W przedstawionym artykule, opracowano, w oparciu o technikę badania niezawodności, schemat przyspieszonego badania degradacji przekaźników elektromagnetycznych stosowanych w lotnictwie. Zaprojektowano i zpracowano system oceny parametrów składowania przekaźników elektromagnetycznych używanych w lotnictwie w warunkach przyspieszonych przy skrajnych temperaturach. Ostatnie badania nad niezawodnością składowania przekaźników koncentrują się wyłącznie na pomiarze rezystancji styku. Nie były w nich monitorowane parametry czasowe przekaźnika (czas załączania, czas otwarcia, czas opóźnienia, czas trwania odbicia itp.), które odzwierciedlają jego główne funkcje. W przedstawionych badaniach mierzono jednocześnie parametry czasowe przekaźników i rezystancję styków. W oparciu o analizę uzyskanych wyników doświadczeń, badano zjawiska degradacji EMR podczas ich długoterminowego składowania, co stanowiło podstawę do wyznaczenia parametrów wrażliwych na degradację. Wreszcie, w oparciu o strukturę i funkcje EMR, badano mechanizm powstawania uszkodzeń podczas ich składowania na podstawie właściwości przewodzących. Prowadzone regularnie metodami SEM i EDX analizy budowy mikroskopowej oraz przemian pierwiastków chemicznych zachodzących na powierzchni styków przekaźnika stanowią odniesienie dla badań mechanizmu powstawania uszkodzeń podczas składowania przekaźników.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2017, 19, 4; 530-541
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Consistency analysis of degradation mechanism in step-stress acc elerated degradation testing
    Analiza niezmienności mechanizmu degradacji w przyspieszonych badaniach degradacji z obciążeniem stopniowym
    Autorzy:
    Lu, X.
    Chen, X.
    Wang, Y.
    Tan, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301224.pdf
    Data publikacji:
    2017
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    przyspieszone badania degradacji z obciążeniem stopniowym
    niezmienność mechanizmu degradacji
    test ilorazu wiarygodności
    uszczelka gumowa
    step-stress accelerated degradation testing
    degradation mechanism consistency
    likelihood ratio test
    rubber seals
    Opis:
    Step-stress accelerated degradation testing (SSADT) has been used by many researchers for the reliability assessment of highly reliable products. Most of the previous works on SSADT assume that the degradation mechanism keeps unchanged during the accelerated degradation testing. However, some recent investigations have shown that degradation mechanisms may be different among various accelerated stress levels. For an accurate extrapolation of accelerated testing results to the ambient condition, the degradation mechanism at all accelerated stress levels should be the same. Taking the variation of the degradation mechanism into account, it is advisable to test the degradation mechanism consistency in a SSADT. This paper proposes a likelihood ratio test method for the consistency analysis of degradation mechanism in the SSADT. We first introduce the basic principle of the likelihood ratio test method. Then we describe the model for SSADT data and the parameter estimation method. Further, we propose a decision rule for the consistency analysis. The proposed method is illustrated and validated with examples on the consistency analysis of degradation mechanism in a SSADT of silicone rubbers.
    Wielu badaczy wykorzystuje przyspieszone badania degradacji z obciążeniem stopniowym (ang. step-stress accelerated degradation testing, SSADT) do oceny niezawodności wysoce niezawodnych produktów. Większość wcześniejszych prac nad SSADT zakłada, że podczas badań przyspieszonych mechanizm degradacji pozostaje niezmienny. Jednak, najnowsze badania wykazały, że mechanizmy degradacji mogą różnić się w zależności od poziomu przyspieszonego obciążenia. Poprawna ekstrapolacja wyników badań przyspieszonych na warunki otoczenia wymaga aby mechanizm degradacji przy wszystkich poziomach obciążenia był taki sam. Biorąc pod uwagę zmienność mechanizmu degradacji, wskazane jest badanie stopnia (nie)zmienności mechanizmu degradacji w badaniach SSADT. W artykule zaproponowano metodę analizy niezmienności mechanizmu degradacji w badaniach SSADT opartą na teście ilorazu wiarygodności. W pierwszej kolejności, przedstawiono podstawową zasadę testu ilorazu wiarygodności. Następnie, opisano model dla danych SSADT i metodę estymacji parametrów. Ponadto zaproponowano regułę decyzyjną stanowiąca narzędzie do analizy niezmienności. Omawianą metodę zilustrowano i zweryfikowano na przykładzie analizy niezmienności mechanizmu degradacji w badaniach SSADT gumy silikonowej.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2017, 19, 2; 302-309
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Study of the characteristics about insulation damage based on the accelerated life tests
    Badanie charakterystyk uszkodzeń izolacji w oparciu o testy przyspieszonego starzenia
    Autorzy:
    Yang, Y. H.
    Wang, K.-S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/300857.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    accelerated life testing
    competing failure mode
    insulation degradation
    Gompertz-type relation shape parameter
    Opis:
    In this study the Maximum Likelihood Estimator is taken to identify the characteristics of insulation failure about the class-H motors by considering the accelerated life testing data under censored situation from Nelson. Based on the Weibull survival modeling the failure is expressed as the series connection of three modes, namely the turn, phase, and ground, respectively, the so-called competing failure. The main concern in present investigation is about the variation of shape parameters, β with the temperature. The Gompertz-type relation of βi(T) is suggested with the reference temperature, Tri for the i-th failure mode. It is found that the Tri ’s not only distinguish the characteristics of cumulative damage process about the insulation, but also involve the estimation of mean-time-to-failure (MTTF). Physically Tri denotes the turning point of varied βi as the i-th failure mode becomes moderate in a sense of less capability about the accumulation of insulation damage at higher temperature where corresponds the thermal degradation process. The numerical results indicate that the insulation technique used is acceptable as the operation temperature kept in the use condition 363K. According to the predicted lifetime as the temperature rises up to 440K, which still within the allowed range in application, the turn structure needs to be rearranged primarily, then the phase next. The ground mode has only influence on the failure at much higher temperature.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2013, 15, 4; 325-331
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Przyspieszone badania degradacji przy stałym naprężeniu w analizie diod superelektroluminescencyjnych i wrażliwości parametrycznej
    Constant stress adt for superluminescent diode and parameter sensitivity analysis
    Autorzy:
    Li, X.
    Jiang, T.
    Sun, F.
    Ma, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301041.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    analiza wrażliwościowa
    ruchy Browna
    obniżenie charakterystyk
    badania przyspieszone
    SLD
    sensitivity analysis
    Brownian motion
    performance degradation
    accelerated testing
    Opis:
    Ruchy Browna są jednym z najpotężniejszych procesów stochastycznych w ciągłym czasie i ciągłej przestrzeni, który ma też mocne podstawy fi zyczne. W analizie przyspieszonych badań degradacji (ADT), rozkład odwrotny gaussowski, będący rozkładem czasu pierwszego przejścia ruchu Browna z dryfem (drift Brownian motion), staje się bardzo popularnym modelem predykcji statystycznej życia i niezawodności produktów. Diody superelektroluminescencyjne (SLD) o długiej żywotności i wysokiej niezawodności mają wiele zalet fi zycznych, które sprawiają, że zastępują one diody laserowe (LD) oraz diody elektroluminescencyjne (świecące) (LED) i mają szerokie zastosowanie w czujnikach światłowodowych. W niniejszym artykule przeprowadzono badania ADT diody SLD przy stałym naprężeniu. Aby ocenić możliwość zastosowania rozkładu odwrotnego gaussowskiego do badań diod SLD, określono najpierw trwałość i niezawodność SLD na podstawie danych o spadku mocy optycznej uzyskanych z badania ADT prowadzonego przy stałym naprężeniu. Następnie przeprowadzono analizy wrażliwości parametrycznej w trzech wymiarach: niezawodności, czasu życia i parametru analitycznego. Wreszcie, kierując się wynikami analizy wrażliwościowej, przedstawiono niektóre zasady planowania i przeprowadzania testów ADT przy stałym naprężeniu.
    Brownian motion is one of the most powerful stochastic processes in continuous time and continuous space and has a good physics background. For the analysis of accelerated degradation testing (ADT), the inverse Gaussian (IG) distribution, which is the fi rst passage time distribution of the drift Brownian motion (DBM), becomes a very popular statistical prediction model of product life and reliability. Instead of laser diode (LD) and Light Emitting Diode (LED), long-life and high-reliability super-luminescent diode (SLD) has many physical advantages and has been widely used in optical fi ber sensors. In this paper, the constant stress ADT (CSADT) of SLD was conducted. In order to evaluate the applicability of IG distribution to SLD, we fi rst estimate the life and reliability of SLD based on the optical power degradation data collected in CSADT. Then parameter sensitivity analyses are conducted in the 3-dimensions of reliability, lifetime and the analytic parameter. Finally, according to the sensitive analysis results, some CASDT planning and testing principles are presented.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 21-26
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies