Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Wang, C.Y." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-7 z 7
    Tytuł:
    Lifetime prediction method for electron multiplier based on accelerated degradation test
    Metoda prognozowania cyklu życia powielacza elektronów oparta na przyspieszonych badaniach degradacji
    Autorzy:
    Wang, Y.
    Zhang, C.
    Chen, X.
    Tan, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301960.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    electron multiplier
    accelerated degradation test
    lifetime prediction
    reliability
    powielacz elektronów
    przyspieszone badanie degradacji
    prognozowanie cyklu życia
    niezawodność
    Opis:
    Electron multiplier (EM) is a kind of highly reliable and long-lifetime vacuum electronic device applied widely in spectrometry, space exploration and atom frequency standard. It is a critical device which might constrain the related technology. A challenge remains for researcher and engineer how to predict the life span of EM. Firstly, degradation mechanism of EM is investigated. It shows that the secondary emission ratios of each multiplier electrode reduces gradually with operating time, which results in the degradation of the key performance index of EM, i.e. the gain of electric current. So an accelerated degradation test (ADT) methodology using dual stresses is proposed to predict the life span of EM. Secondly, the ADT plan with dual stresses is designed and carried out by the corresponding test system established. Finally, the data analysis procedure is presented, and its validity is investigated by model verification. The presented method can sharply reduce testing time and cost because of using accelerated stress which can accelerate degradation process of EM. This method can also provide a new way to lifetime and reliability prediction for other products with long lifetime and high reliability.
    Powielacz elektronów (EM) to elektroniczne urządzenie próżniowe o wysokiej niezawodności i długim cyklu życia, które znajduje szerokie zastosowanie w spektrometrii i badaniach przestrzeni kosmicznej, a także w atomowych wzorcach częstotliwości. Jest to urządzenie krytyczne, które może stanowić ograniczenie dla technologii, w której jest wykorzystywane. Wyzwaniem dla naukowców i inżynierów pozostaje pytanie, jak przewidzieć żywotność EM. W pierwszej kolejności w artykule zbadano mechanizm degradacji EM. Badanie pokazało, że współczynniki emisji wtórnej elektrody powielacza maleją stopniowo wraz z upływem czasu pracy, co prowadzi do degradacji kluczowego wskaźnika wydajności EM, to znaczy wzmocnienia prądu elektrycznego. W oparciu o ten fakt, zaproponowano metodę prognozowania żywotności EM zasadzającą się na metodologii przyspieszonych badań degradacji (ADT) z wykorzystaniem podwójnych naprężeń. Następnie zaprojektowano i zrealizowano plan ADT z podwójnymi naprężeniami za pomocą odpowiedniego systemu testowego. Na koniec przedstawiono procedurę analizy danych, a ich wiarygodność zbadano poprzez weryfikację modelu. Przedstawiona metoda może znacznie zredukować czas i koszty badań dzięki wykorzystaniu przyspieszonych naprężeń, które mogą przyspieszyć proces degradacji EM. Metoda ta może również umożliwić nowy sposób przewidywania niezawodności i cyklu życia produktów o długim cyklu życia i wysokiej niezawodności.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2014, 16, 3; 484-490
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System reliability demonstration with equivalent data from component accelerated testing based on reliability target transformation
    Stwierdzanie niezawodności systemu na podstawie równoważnych danych z przyspieszonych badań elementów składowych w oparciu o transformację celu niezawodnościowego
    Autorzy:
    Luo, W.
    Zhang, C.
    Chen, X.
    Wang, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301742.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    reliability demonstration
    accelerated testing
    equivalent binomial component data
    reliability target transformation
    Bayesian attribute acceptance sampling plan
    stwierdzanie niezawodności
    badania przyspieszone
    równoważne dane dwumienne dla części składowych
    transformacja celu niezawodnościowego
    bayesowski planwyrywkowej kontroli odbiorczej systemu wg
    zadanych charakterystyk
    Opis:
    The reliability demonstration test (RDT) programs in general proceed at various levels, including component, subsystem, and system in the verification and validation phase of the product life cycle. The system reliability demonstration within feasible duration becomes a considerable issue because of the marketplace demands for decreased development time and cost. A method based on reliability target transformation is proposed to accomplish the system reliability demonstration with the data from the RDT of the components. In order to shorten the test time, the RDT plan for component under the accelerated condition is first designed. Then, the reliability target of the system with different lifetimes required by the producer and the consumer is transferred to the target with the same specified mission time, which should meet the time constraint of the system level test. Next, the lower limit confidence of component reliability at the system mission time are estimated and converted to the equivalent binomial component data by the curve fitting method, then they are synthesized to the equivalent binomial system data by the Bayesian method. Finally, the system reliability demonstration is considered. The system classical attribute acceptance sampling plan at the mission time is used to make decisions using the equivalent binomial system data. If the decision cannot be made, the system Bayesian attribute acceptance sampling plan will be designed with the equivalent data as the prior parameters and the complementary system test will be conducted.
    Ogólnie, oprogramowanie do badań stwierdzających niezawodność (RDT) można stosować na różnych poziomach, w tym na poziomie elementu składowego, podsystemu i systemu, w fazie weryfikacji i walidacji cyklu życia produktu. Stwierdzenie niezawodności systemu w realnym terminie staje się ważkim problemem ze względu na wymogi rynku co do zmniejszenia czasu i kosztów rozwoju. W prezentowanej pracy zaproponowano metodę opartą na transformacji celu niezawodnościowego, wedle której niezawodność systemu stwierdza się na podstawie danych z RDT części składowych. Aby skrócić czas testowania, w pierwszej kolejności tworzy się plan RDT dla części składowej w warunkach przyspieszonych. Następnie cel niezawodnościowy systemu przy różnych czasach pracy wymaganych przez producenta, jak i konsumenta, zostaje przetransponowany na cel o tym samym określonym czasie użytkowania, który powinien spełniać ograniczenie czasowe dla badań na poziomie systemu. Następnie szacuje się dolne granice przedziałów ufności dla niezawodności komponentów w określonym czasie eksploatacji systemu oraz przekształca się je na równoważne dane dwumienne dla części składowych z wykorzystaniem metody dopasowywania krzywych; dalej, są one syntetyzowane do równoważnych dwumiennych danych dotyczących systemu z zastosowaniem metody Bayesa. Pozwala to na stwierdzenie niezawodności systemu. Decyzje podejmuje się na podstawie równoważnych danych dwumiennych dotyczących systemu z wykorzystaniem klasycznego planu wyrywkowej kontroli odbiorczej systemu według zadanych charakterystyk dla określonego czasu użytkowania. Jeżeli decyzja nie może zostać podjęta w ten sposób, konstruuje się bayesowski plan wyrywkowej kontroli odbiorczej systemu wg. zadanych charakterystyk, gdzie dane równoważne stanowią parametry a priori, oraz przeprowadza się uzupełniające badania systemu.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2013, 15, 4; 356-363
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Lifetime prediction of self-lubricating spherical plain bearings based on physics-of-failure model and accelerated degradation test
    Prognozowanie czasu pracy samosmarujących łożysk ślizgowych w oparciu o model fizyki uszkodzeń oraz przyspieszone badania degradacji
    Autorzy:
    Wang, Y.
    Fang, X.
    Zhang, C.
    Chen, X.
    Lu, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/300754.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    accelerated degradation test
    self-lubricating spherical plain bearing
    lifetime prediction
    physicsof-failure model
    przyspieszone badanie degradacji
    samosmarujące łożysko ślizgowe
    prognozowanie czasu pracy
    model fizyki uszkodzeń
    Opis:
    Due to small friction coefficient and no need for lubrication during operation, self-lubricating spherical plain bearings (SSPBs) have been widely used in operation and transmission systems in aerospace, nuclear power plants, and ship equipment and they are key components of these systems. SSPBs failure will directly affect the operational reliability and safety of the equipment; therefore, it is necessary to accurately predict the service life of SSPBs to define reasonable maintenance plans and replacement cycles and to ensure reliability and safety of vital equipment. So far, lifetime prediction of SSPB has been primarily based on empirical formulae established by most important bearing manufacturers. However, these formulae are lack of strong theoretical basis; the correction coefficients are difficult to determine, resulting in low accuracy of lifetime prediction. In an accelerated degradation test (ADT), the load is increased to accelerate the SSPB wear process. ADT provides a feasible way for accurate lifetime prediction of SSPB in a short period. In this paper, wear patterns are studied and methods of wear analysis are presented. Then, physics-offailure model which considers SSPB wear characteristics, structure parameters and operation parameters is established. Moreover, ADT method for SSPB is studied. Finally, lifetime prediction method of SSPBs based on physics-of-failure model and ADT is established to provide a theoretical method for quick and accurate lifetime prediction of SSPBs.
    W związku z niskim współczynnikiem tarcia oraz brakiem konieczności smarowania podczas pracy,samosmarujące łożyska ślizgowe (self-lubricating spherical bearings, SSPB) znajdują szerokie zastosowanie w układach pracy oraz układach przełożeń urządzeń w przemyśle lotniczym, elektrowniach jądrowych, oraz na statkach, stanowiąc kluczowe elementy tych układów. Uszkodzenie łożyska SSPB ma bezpośredni wpływ na niezawodność eksploatacyjną oraz bezpieczeństwo sprzętu; dlatego też istnieje konieczność precyzyjnego prognozowania resursu łożysk SSPB, pozwalającego na odpowiednie planowanie konserwacji oraz cykli wymiany , które ma na celu zapewnienie niezawodności i bezpieczeństwa kluczowego sprzętu. Dotychczas czas pracy łożysk SSPB prognozowano przede wszystkim w oparciu o wzory empiryczne podawane przez największych producentów łożysk. Wzory te, jednak, nie mają solidnej podstawy teoretycznej; trudno jest dla nich określić współczynniki korygujące, co zmniejsza trafność prognozowania czasu pracy. W przyspieszonych badaniach degradacji zwiększa się obciążenie celem przyspieszenia procesu zużycia łożysk SSPB. Badania przyspieszone umożliwiają trafne przewidywanie czasu pracy łożysk SSPB w krótkim okresie czasu. W przedstawionej pracy analizowano wzorce zużycia badanych łożysk oraz przedstawiono metody analizy zużycia. Następnie opracowano model fizyki uszkodzeń, który uwzględnia charakterystyki zużycia, parametry konstrukcyjne oraz parametry eksploatacyjne omawianych łożysk ślizgowych. Ponadto rozpatrywano możliwość zastosowania badań przyspieszonych dla tego typu łożysk. W wyniku przeprowadzonych badań, opracowano metodę prognozowania czasu pracy łożysk SSPB opartą na modelu fizyki uszkodzeń oraz badaniach przyspieszonych, która pozwala na szybkie i trafne prognozowanie czasu pracy samosmarujących łożysk ślizgowych.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2016, 18, 4; 528-538
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Electronic System Fault Diagnosis with Optimized Multi-kernel SVM by Improved CPSO
    Diagnoza uszkodzeń układu elektronicznego z wykorzystaniem Wielojądrowej Maszyny Wektorów Nośnych (SVM) zoptymalizowanej przy pomocy poprawionego algorytmu CPSO
    Autorzy:
    Guo, Y. M.
    Wang, X. T.
    Liu, C.
    Zheng, Y. F.
    Cai, X. B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/300922.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    układ elektroniczny
    diagnoza uszkodzeń
    maszyna wektorów nośnych
    optymalizacja metodą chaosu-roju cząstek
    funkcja wielojądrowa
    electronic system
    fault diagnosis
    support vector machine (SVM)
    chaos particles swarm optimization
    multi-kernel
    Opis:
    Bezpieczeństwo pracy układów elektronicznych stało się kluczowym zagadnieniem w odniesieniu do złożonych układów o wysokiej niezawodności. Obecnie coraz większy nacisk kładzie się na trafność diagnozy uszkodzeń układów elektronicznych. Na podstawie charakterystyki diagnozy uszkodzeń układów elektronicznych, opracowaliśmy model wielokryterialnej klasyfikacji SVM pozwalający osiągnąć lepszą trafność diagnozy uszkodzeń. Model wykorzystuje funkcję wielojądrową składającą się z kilku bazowych funkcji jądrowych pozwalającą na zwiększenie interpretowalności modelu klasyfikacyjnego. Aby zoptymalizować działanie modelu wielokryterialnej klasyfikacji SVM wykorzystującego funkcję wielojądrową, udoskonaliliśmy algorytm Optymalizacji Metodą Chaosu-Roju Cząstek (CPSO), co pozwoliło osiągnąć optymalne parametry SVM i funkcji wielojądrowej. W poprawionym algorytmie CPSO wzmocniono różnorodność wyszukiwania poprzez wykorzystanie chaotycznej sekwencji generowanej przez zmodyfikowaną mapę tent, a także włączono do standardowego algorytmu PSO efektywną metodę pozwalającą uniknąć przedwczesnej stagnacji oraz uzyskać globalne wartości optymalizacji. Wyniki symulacji diagnozy uszkodzeń systemu elektronicznego pokazują, że proponowany system optymalizacji może być wykorzystywany jako skuteczna metoda umożliwiająca znaczne zwiększenie trafności diagnozy uszkodzeń z wykorzystaniem wielojądrowej SVM.
    Electronic systems’ safety operation has become a key issue to complex and high reliability systems. Now more emphasis has been laid on the accuracy of electronic system fault diagnosis. Based on the characteristics of the electronic system fault diagnosis, we design a multi-classification SVMs model to attain better fault diagnosis accuracy, which utilizes multi-kernel function consisting of several basis kernel functions to enhance the interpretability of the classification model. In order to optimize the performance of multi-classification SVMs with multi-kernel, we improve the Chaos Particles swarm Optimization (CPSO) algorithm to achieve the optimum parameters of SVMs and the multi-kernel function. For the improved CPSO algorithm, a modified Tent Map chaotic sequence is used to strengthen the search diversity, and an effective method is embedded to the stander PSO algorithm which can ensure to avoid premature stagnation and obtain the global optimization values. The fault diagnosis simulation results of an electronic system show the proposed optimization scheme is a feasible and effective method and it can significantly improve the fault diagnosis accuracy of the multi-kernel SVM.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2014, 16, 1; 85-91
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A novel Wiener process model with measurement errors for degradation analysis
    Analiza degradacji z zastosowa niem nowego modelu procesu Wienera uwzględniającego błędy pomiarowe
    Autorzy:
    Wang, Z.
    Li, J.
    Zhang, Y.
    Fu, H.
    Liu, C.
    Krishnaswamy, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301209.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    performance degradation
    independent increment process
    Wiener process model
    linear mean function
    linear standard deviation function
    measurement error
    obniżenie charakterystyk
    proces o przyrostach niezależnych
    model procesu Wienera
    funkcja średniej liniowej
    funkcja liniowego odchylenia standardowego
    błąd pomiaru
    Opis:
    Degradation analysis can be used to assess reliability for complex systems and highly reliable products, because few or even no failures are expected in a reasonable life test span. In order to further our study on degradation analysis, an independent increment random process method with linear mean and standard deviation functions is presented to model practical degradation procedures. It is essentially a Wiener process method. Since measurement errors are often created by imperfect instruments, procedures and environments during degradation investigation, the measurement error is incorporated into the independent increment random process. Furthermore, statistical inferences of this model are discussed, and close forms of a product’s median life and percentile of the failure time distribution (FTD) are also derived. The proposed method is illustrated and verified in a comprehensive simulation study and two practice applications for storage disks and Infrared light-emitting diodes. Meanwhile, the time-transformed Wiener process model with measurement error is considered as a reference method. Comparisons show that the proposed model can provide reasonable results, even in considerably small sample size circumstance.
    Analizę degradacji można stosować do oceny niezawodności wysoce niezawodnych złożonych systemów i produktów, ponieważ w ich przypadku istnieje bardzo niskie lub zerowe prawdopodobieństwo wystąpienia uszkodzenia w trakcie badania trwałości w przyjętym okresie eksploatacji. W artykule przedstawiono nowo opracowane podejście do modelowania procesu degradacji wykorzystujące metodę procesu o przyrostach niezależnych oraz pojęcia funkcji średniej liniowej i funkcji liniowego odchylenia standardowego. Zasadniczo jest to metoda oparta na procesie Wienera. Ponieważ badania degradacji często wiążą się z błędami pomiarowymi wynikającymi z niedoskonałości stosowanych narzędzi, procedur i warunków badawczych, opisywany proces o przyrostach niezależnych uwzględnia błędy pomiaru. Ponadto, w pracy omówiono wnioski statystyczne, jakie można wyciągnąć na podstawie przedstawionego modelu oraz wyprowadzono wzory ogólne na średnią długość życia produktu oraz na percentyl rozkładu czasu do uszkodzenia. Proponowaną metodę zilustrowano i zweryfikowano na podstawie kompleksowego badania symulacyjnego oraz przykładów praktycznego zastosowania modelu w odniesieniu do dysków pamięci masowej oraz diod podczerwieni. W artykule przedstawiono także model procesu Wienera z transformowanym czasem uwzględniający błąd pomiaru, który posłużył za model referencyjny. Porównania pokazują, że proponowany model może dawać poprawne wyniki, nawet przy bardzo małej liczebności próby.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2016, 18, 3; 396-405
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Convex sublattice based reliability theory
    Teoria niezawodności oparta na pojęciu podkraty wypukłej
    Autorzy:
    Pang, Y.
    Huang, H. Z.
    He, L.
    Wang, Z.
    Xiao, N. C.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301375.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    relacja kongruencji
    podkrata wypukła
    teoria krat
    wielostanowa funkcja struktury
    teoria możliwości
    górny kres zbioru
    congruence relation
    convex sublattice
    lattice theory
    multistate structure function
    possibility theory
    upper bound set
    Opis:
    Classical probability theory has been widely used in reliability analysis; however, it is hard to handle when the system is lack of` adequate and sufficient data. Nowadays, alternative approaches such as possibility theory and fuzzy set theory have also been proposed to analyze vagueness and epistemic uncertainty regarding reliability aspects of complex and large systems. The model presented in this paper is based upon possibility theory and multistate assumption. Convex sublattice is addressed on congruence relation regarding the complete lattice of structure functions. The relations between the equivalence classes on the congruence relation and the set of all structure functions are established. Furthermore, important reliability bounds can be derived under the notion of convex sublattice. Finally, a numerical example is given to illustrate the results.
    Klasyczna teoria prawdopodobieństwa ma szerokie zastosowanie w analizie niezawodności, jednak trudno jest się nią posługiwać, kiedy brak jest wystarczających i odpowiednich danych na temat systemu. Obecnie, proponuje się alternatywne podejścia, takie jak teoria możliwości czy teoria zbiorów rozmytych, za pomocą których można analizować niepewność epistemiczną oraz nieostrość w odniesieniu do aspektów niezawodności złożonych i dużych systemów. Model przedstawiony w niniejszym artykule oparto na teorii możliwości oraz na założeniu wielostanowości. Podkratę wklęsłą opisano na relacji kongruencji, odnoszącej się do całej kraty funkcji struktury. Ustalono relacje pomiędzy klasami równoważności na relacji kongruencji a zbiorem wszystkich funkcji struktury. Ponadto posługując się pojęciem podkraty wypukłej można wyprowadzać istotne kresy niezawodności. Wyniki zilustrowano przykładem numerycznym.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2011, 3; 56-61
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Metoda analizy niepewności oparta na połączeniu zasady maksymalnej entropii i metody oceny punktowej
    Uncertainty analysis method based on a combination of the maximum entropy principle and the point estimation metod
    Autorzy:
    Zhang, X. L.
    Huang, H. Z.
    Wang, Z. L.
    Xiao, N. C.
    Li, Y. F.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301597.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    analiza niepewności
    bootstrapping
    momenty
    zasada maksymalnej entropii
    uncertainty analysis
    moments
    maximum entropy principle
    Opis:
    Niepewność jest nieodłącznym elementem procesów projektowania produktu. Dlatego też podejmowanie niezawodnych decyzji wymaga analizy niepewności, która uwzględniałaby wszystkie rodzaje niepewności. W praktyce inżynierskiej, z powodu niepełnej wiedzy, wyznaczenie rozkładu niektórych zmiennych projektowych nie jest możliwe. Co więcej, funkcja stanu granicznego jest wysoce nieliniowa, co sprawia, że do poprawnego obliczenia prawdopodobieństwa uszkodzenia potrzebna jest znajomość momentów wyższych rzędów tej funkcji. W niniejszej pracy zaproponowano metodę analizy niepewności łączącą zasadę maksymalnej entropii z metodą bootstrapową. W pierwszej części pracy wykorzystano metodę bootstrapową do obliczenia przedziałów ufności czterech pierwszych momentów dla zmiennych losowych typu mieszanego oraz zmiennych z próby. Następnie, wyznaczono momenty wyższych rzędów funkcji stanu granicznego przy użyciu metody redukcji wymiarów. Po trzecie, w celu obliczenia funkcji gęstości prawdopodobieństwa (PDF) oraz dystrybuanty (CDF) funkcji stanu granicznego, sformułowano model optymalizacji oparty na zasadzie maksymalnej entropii. Proponowana metoda nie wymaga założenia znajomości rozkładów zmiennych losowych ani obliczania wrażliwości dla funkcji stanu granicznego w odniesieniu do najbardziej prawdopodobnego punktu awarii. W końcowej części artykułu porównano na podstawie przykładów numerycznych wyniki otrzymane za pomocą proponowanej metody oraz symulacji Monte Carlo (MCS).
    Uncertainty is inevitable in product design processes. Therefore, to make reliable decisions, uncertainty analysis incorporating all kinds of uncertainty is needed. In engineering practice, due to the incomplete knowledge, the distribution of some design variables can not be determined. Furthermore, the performance function is highly nonlinear, therefore, the high order moments of the performance function are needed to calculate the probability of failure accurately. In this paper, an uncertainty analysis method combining the maximum entropy principle and the bootstrapping method is proposed. Firstly, the bootstrapping method is used to calculate the confidence intervals of the first four moments for mixed random variables and sample variables. Secondly, the high order moments of limit state functions are estimated using the reduced dimension method. Thirdly, to calculate the probability density function (PDF) and cumulative distribution function (CDF) of the limit state functions, an optimization model based on the maximum entropy principle is formulated. In the proposed method, the assumptions that the distribution of the random variables are known and the calculation of the sensitivity for limit state function with respect to the Most Probable Point (MPP) are avoided. Finally, comparisons of results from the proposed methods and the MCS method are presented and discussed with numerical examples.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2012, 14, 2; 114-119
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-7 z 7

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies