Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Chen, Tao" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Effective sensor placement based on a VIKOR method considering common cause failure in the presence of epistemic uncertainty
Autorzy:
Duan, Rong-Xing
He, Jie-Jun
Feng, Tao
Huang, Shu-Juan
Chen, Li
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1841697.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
dynamic fault tree
epistemic uncertainty
sensor placement
reliability criterion
diagnostic sensor model
Opis:
Owing to expensive cost and restricted structure, limited sensors are allowed to install in modern systems to monitor the working state, which can improve their availability. Therefore, an effective sensor placement method is presented based on a VIKOR algorithm considering common cause failure (CCF) under epistemic uncertainty in this paper. Specifically, a dynamic fault tree (DFT) is developed to build a fault model to simulate dynamic fault behaviors and some reliability indices are calculated using a dynamic evidence network (DEN). Furthermore, a VIKOR method is proposed to choose the possible sensor locations based on these indices. Besides, a sensor model is introduced by using a priority AND gate (PAND) to describe the failure sequence between a sensor and a component. All placement schemes can be enumerated when the number of sensors is given, and the largest system reliability is the best alternative among the placement schemes. Finally, a case study shows that CCF has some influence on sensor placement and cannot be neglected in the reliabilitybased sensor placement.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2021, 23, 2; 253-262
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Bayesowski model wzrostu niezawodności oparty na dynamicznych parametrach rozkładu
Bayesian reliability growth model based on dynamic distribution parameters
Autorzy:
Tao, Y.
Zhang, Y. A.
Chen, X.
Ming, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301037.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
statystyka populacji niejednorodnej
model monotoniczny
Bayes
model przyrostu niezawodności
rozkład wykładniczy
non-homo geneous population statistics
monotone model
reliability growth model
exponential distribution
Opis:
W artykule przestudiowano metody analizy statystycznej na różnych etapach wzrostu niezawodności w oparciu o model monotoniczny. Zamodelowano zmiany jakim dynamiczne parametry rozkładu podlegają podczas badań. Podano bayesowskie modele wzrostu niezawodności dla licznych etapów wzrostu niezawodności. Na koniec metodę zweryfikowano w oparciu o przykład praktyczny.
In this paper we study the statistical analysis methods at different stages of reliability growth based on the monotone model. The changes of dynamic distribution parameters during test are modeled. Bayesian reliability growth models for multiple stages of reliability growth are given. Finally the method is validated by a practical example.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 13-16
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies