Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Lipinski, M.J." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Porous Silicon Formation by Metal-Assisted Chemical Etching
Autorzy:
Lipinski, M.
Cichoszewski, J.
Socha, R.
Piotrowski, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1807542.pdf
Data publikacji:
2009-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.16.Rf
81.05.Rm
78.55.Mb
61.43.Gt
78.67.Bf
Opis:
The method of metal-assisted chemical etching produces a porous silicon layer. Palladium particles are deposited on both: multi-crystalline and Czochralski grown mono-crystalline Si wafers by immersing them in $PdCl_{2}$ solution for 1 to 3 min. X-ray photoelectron spectroscopy analysis of Pd clusters shows a decrease in Pd metal fraction by prolonged immersion time t from $F_{Pd}$ = 71.2% for t = 1 min to $F_{Pd}$ = 61.4% for t = 3 min due to Pd oxidation process. Porous silicon forms by metal-assisted chemical etching in a HF:$H_{2}O_{2}$ solution for 1 to 3 min. Photoluminescence of metal-assisted chemical etched samples exhibits the peak with a maximum of t at λ=650 nm independent of the etching time. Simultaneously, the intensity of the photoluminescence spectra strongly decreases for extended etching time t = 3 min. This behavior is attributed to increasing layer macroporosity, which strongly reduces amount of light emitting nanocrystallites.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 116, S; S-117-S-119
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Properties of Neutron Doped Multicrystalline Silicon for Solar Cells
Autorzy:
Pochrybniak, C.
Pytel, K.
Milczarek, J.
Jaroszewicz, J.
Lipiński, M.
Piotrowski, T.
Kansy, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813183.pdf
Data publikacji:
2008-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.40.Wx
71.60.-i
78.70.Bj
61.80.-x
Opis:
The technology of neutron transmutation doping of silicon wafers in MARIA nuclear research reactor is described. The studies of the radiation defects performed with positron annihilation confirmed that divacancies dominate in the irradiated material. Thermal treatment of irradiated silicon at 700-1000°C produces void-phosphorus complexes and void aggregates. The resistivity of the samples produced by neutron transmutation doping was found to be uniform within 2.5% limits. The severe reduction of the minority carrier lifetime in irradiated samples was confirmed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 4; 1255-1265
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies